多木 俊裕 | 富士通
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概要
関連著者
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多木 俊裕
富士通
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多木 俊裕
富士通株式会社 電子デバイス事業本部
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牧山 剛三
(株)富士通研究所
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吉川 俊英
富士通
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原 直紀
富士通研究所
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牧山 剛三
富士通
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牧山 剛三
株式会社 富士通研究所
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今西 健治
富士通
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今西 健治
富士通研
-
今西 健治
富士通研究所
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金村 雅仁
(株)富士通研究所
-
常信 和清
富士通株式会社
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常信 和清
富士通株式会社:株式会社富士通研究所
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吉川 俊英
富士通研究所
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原 直紀
(株)富士通研究所
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岡本 直哉
富士通
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原 直紀
株式会社富士通研究所
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牧山 剛三
富士通株式会社
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吉川 俊英
富士通株式会社ネットワークプロダクト事業本部
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金村 雅仁
富士通株式会社
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高橋 剛
富士通株式会社
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増田 哲
富士通研究所
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増田 哲
(株)富士通研究所
-
増田 哲
富士通株式会社:株式会社富士通研究所
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重松 寿生
(株)富士通研究所
-
多木 俊裕
(株)富士通研究所
-
重松 寿生
富士通研究所
-
多木 俊裕
富士通株式会社
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今西 健治
富士通株式会社
-
金村 雅仁
富士通(株)
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中舎 安宏
(株)富士通研究所
-
中舎 安宏
富士通株式会社
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牧山 剛三
富士通研究所
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中舍 安宏
株式会社富士通研究所
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今西 健治
(株)富士通研究所
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吉川 俊英
(株)富士通研究所
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原 直紀
富士通株式会社
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多木 俊裕
株式会社富士通研究所
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中舎 安宏
富士通研究所
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井上 雄介
(株)富士通研究所
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常信 和清
(株)富士通研究所
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川野 陽一
名古屋大学工学研究科
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岡本 直哉
(株)富士通研究所
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原 直紀
富士通
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牧山 剛三
富士通(株)
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川野 陽一
富士通株式会社
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鈴木 俊秀
富士通株式会社
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鈴木 俊秀
株式会社富士通研究所
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川野 陽一
株式会社富士通研究所
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鈴木 俊秀
富士通株式会社:株式会社富士通研究所
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多木 俊裕
富士通(株)
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今西 健治
富士通(株)
-
常信 和清
富士通(株)
-
山田 敦史
富士通株式会社:株式会社富士通研究所
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原 直紀
富士通(株)
-
尾崎 史朗
株式会社富士通研究所
-
尾崎 史朗
富士通研究所
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佐藤 優
株式会社富士通研究所
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廣瀬 達哉
株式会社富士通研究所
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廣瀬 達哉
(株)富士通研究所
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廣瀬 達哉
富士通研究所
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川野 陽一
日本医科大学外科
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川野 陽一
日本医科大学多摩永山病院 外科
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廣瀬 達哉
富士通株式会社
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岡本 直哉
富士通(株)
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吉川 俊英
富士通(株)
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佐藤 優
富士通株式会社
-
常信 和清
富士通
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多木 俊裕
富士通研究所
-
佐藤 優
富士通研究所
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佐藤 優
株式会社 秋田鶏病中央研究所
-
渡部 慶二
富士通研究所
-
佐藤 優
(株)富士通研究所
-
山田 全男
(株)富士通研究所
-
中舍 安宏
富士通株式会社
-
佐藤 優
東海大 工
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高橋 剛
富士通(株)
-
岡本 直哉
富士通株式会社
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増田 哲
富士通株式会社
-
中村 哲一
株式会社富士通研究所
-
西森 理人
富士通研究所
-
山田 敦史
富士通研究所
-
澤谷 邦男
東北大学大学院工学研究科
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水野 皓司
東北大学電気通信研究所
-
佐藤 弘康
東北大学大学院工学研究科
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水野 皓司
東北大学
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佐藤 弘康
東北大学 大学院工学研究科電気・通信工学専攻
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澤谷 邦男
東北大学 大学院工学研究科電気・通信工学専攻
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佐藤 優
富士通研究所高速ICテクノロジ研究部
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澤谷 邦男
東北大学大学院工学研究科電気・通信専攻
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水野 浩司
東北大通研
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岩井 大介
富士通研
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澤谷 邦男
東北大学
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佐藤 優
富士通(株)
-
赤瀬川 章彦
(株)富士通研究所
-
山田 敦史
富士通株式会社
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岩井 大介
(株)富士通研究所
-
吉川 俊秀
富士通(株)
-
山田 敦史
富士通(株)
-
増田 哲
富士通(株)
-
重松 寿生
富士通(株)
-
常信 和清
富士通研究所
-
田島 龍彦
富士通株式会社
-
赤瀬川 章彦
富士通株式会社
-
増田 哲
富士通
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岡本 直哉
富士通研究所
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金村 雅仁
富士通研究所
-
今田 忠紘
富士通研究所
-
美濃浦 優一
富士通研究所
-
今田 忠紘
株式会社富士通研究所
著作論文
- 効率50%超C帯340W、X帯100W級GaN高出力増幅器
- 94GHz帯パッシブイメージセンサ用InP-HEMT MMICの開発(マイクロ波/一般)
- C帯超300W、50%GaN高出力・高効率増幅器(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
- 高信頼GaN-HEMT開発のための劣化モード解析(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- W帯GaN MMIC送受信増幅器
- ノーマリーオフ型高電流密度GaN-HEMT
- GaN-HEMTエピ構造最適化によるオフ電流低減(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)
- ミリ波向け高耐圧・高出力GaN-HEMT(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
- 先端GaN-HEMTデバイス技術 (特集 研究開発最前線)
- モバイルWiMAX基地局向け高効率GaN-HEMT増幅器 (特集 モバイルWiMAX)
- 100W出力AlGaN/GaN EモードHEMT増幅器(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
- 高耐圧 E-mode AlGaN/GaN HEMT 実現のための新規リセス構造
- CS-9-3 GaN高周波応用技術の現状と展望(CS-9. ワイドギャップ半導体電子デバイスの現状と今後の展開,シンポジウムセッション)
- 絶縁ゲートGaN-HEMTの電流コラプス
- W帯10Gb/sインパルス無線通信用ウェーブレット送信機の開発(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
- 94GHz帯パッシブイメージセンサ用InP-HEMT MMICの開発(マイクロ波/一般)
- 75nm InP HEMTによる20Gb/s 4.9ps短パルス発生器の開発(化合物半導体デバイス及び超高周波デバイス/一般)
- 75nm InP HEMTによる20Gb/s 4.9ps短パルス発生器の開発(化合物半導体デバイス及び超高周波デバイス/一般)
- CI-1-9 GaN HEMTのミリ波応用技術(依頼シンポジウム,CI-1.高速ミリ波無線通信用デバイス・IC技術の現状と展望,ソサイエティ企画)
- ミリ波帯大容量伝送システム実現に向けた7.6ps InP HEMT短パルス発生器(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
- C帯超300W、50%GaN高出力・高効率増幅器(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
- 高信頼GaN-HEMT開発のための劣化モード解析(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- 高信頼GaN-HEMT開発のための劣化モード解析(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
- ミリ波高出力GaN-HEMT (レーザ・量子エレクトロニクス)
- ミリ波高出力GaN-HEMT (電子部品・材料)
- ミリ波高出力GaN-HEMT (電子デバイス)
- CI-1-5 70-100GHz帯10Gb/s無線通信用InP HEMT送受信モジュールの開発(依頼シンポジウム,CI-1.高速ミリ波無線通信用デバイス・IC技術の現状と展望,ソサイエティ企画)
- C-10-5 0.1-μm InP HEMTによる85-GHz 15.5-dBm分布型増幅器(C-10.電子デバイス,一般セッション)
- ミリ波高出力GaN-HEMT(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- ミリ波高出力GaN-HEMT(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- ミリ波高出力GaN-HEMT(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- ミリ波向け高耐圧・高出力GaN-HEMT(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
- 100W出力AlGaN/GaN EモードHEMT増幅器(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
- 100W出力AlGaN/GaN EモードHEMT増幅器(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
- ミリ波向け高耐圧・高f_ GaN-HEMT(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般)
- 絶縁ゲートGaN-HEMTの電流コラプス(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般)
- 超高速MMIC作製のためのInP HEMTデバイス技術(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
- 障壁層薄層化によるInP系HEMTの特性改善
- 横方向スケーリングによるInP系HEMTの高周波特性向上
- 絶縁ゲートGaN-HEMTの電流コラプス(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般)
- 絶縁ゲートGaN-HEMTの電流コラプス
- ミリ波向け高耐圧・高f_ GaN-HEMT(超高速・超高周波デバイス及びIC/一般)
- ミリ波向け高耐圧・高f_ GaN-HEMT
- ミリ波用GaN-HEMTに対するSiイオン注入技術の検討(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- ミリ波用GaN-HEMTに対するSiイオン注入技術の検討(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- ミリ波用GaN-HEMTに対するSiイオン注入技術の検討(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- 低オン電圧動作GaN SBDへのCu_2Oエッジ終端構造の適用
- 原子層堆積Al?O?を用いた絶縁ゲート型GaN-HEMTの閾値シフト低減 (レーザ・量子エレクトロニクス)
- 原子層堆積Al?O?を用いた絶縁ゲート型GaN-HEMTの閾値シフト低減 (電子デバイス)