走査型プローブ顕微鏡を用いた単一バイオナノドットの電気特性解析(<特集>シリコン関連材料の作製と評価)
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概要
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我々のグループでは、生体由来球殻状タンパク質(フェリチン)が有する直径7nmの空孔中で合成された無機物ナノ粒子(バイオナノドット)のMOSデバイス応用を目指した研究を行っている。本研究では、走査型プローブ顕微鏡を用いた単一フェリチンコアの電子物性解析を行い、同様のコアを用いて実際に作製したデバイスにおける電気特性評価結果との比較検討を行った。その結果、ケルビンプローブ顕微鏡、走査型トンネル顕微鏡/トンネル分光法を用いたフェリチンコバルトコアの電子物性解析結果に整合する、コバルトコア埋め込みMOSキャパシタの電気的特性を得た。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-12-07
著者
-
冬木 隆
奈良先端科学技術大学院大学
-
安田 幸夫
名古屋大学大学院工学研究科結晶材料工学専攻:(現)高知工科大学総合研究所
-
浦岡 行治
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
山下 一郎
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
三浦 篤志
奈良先端科学技術大学院大学
-
田中 亮大
奈良先端科学技術大学院大学
-
冬木 隆
奈良先端科学技術大学院大
-
浦岡 行治
奈良先端科学技術大学院大
-
山下 一郎
奈良先端科学技術大学院大学:パナソニック
-
山下 一郎
奈良先端科学技術大学院大学
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