ビット並列ブロック並列型FMPPにおける機能メモリのテスト方法
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概要
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半導体メモリの集積度が年々上昇するにつれて,そのテストにかかるコストも増加する.そのために通常のメモリセルに何らかの工夫をして、テストを高速化させる.また,簡単な機能をメモリに持たせてデジタルシステム全体のパフォーマンスを上げる研究も行われている.我々はビット並列ブロック並列(BPBP)型機能メモリ型並列プロセッサ(FMPP)を設計製造した.ここでは,そこで用いられたテスト容易化設計法のうち,FMPPの中核をなす機能メモリ部の高速なテスト方法について報告する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
-
小野寺 秀俊
京都大学工学部電子工学科
-
田丸 啓吉
京都大学工学部
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小林 和淑
京都大学工学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
-
ワーサリン ジュンスワディー
京都大学工学部
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