C-12-68 Subthreshold Leak電流によるNBTI劣化・回復の測定(C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 2010-03-02
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
牧野 紘明
京都大学情報学研究科
-
松本 高士
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科:jst Crest
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学
-
松本 高士
京都大学大学院情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
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