65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF(BCDMR-ACFF)の設計と評価
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概要
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集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減するのは困難であるが、消費電力は低電力化手法を用いることにより削減することができる。本研究は高いソフトエラー耐性を持ちつつ低消費電力な冗長化フリップフロップの設計・評価を行なった。実験結果より従来の冗長化フリップフロップと同等のエラー耐性を持ち、最大61.5 %の電力を削減できた。
- 2012-12-10
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学
-
古田 潤
京都大学
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学
-
山本 亮輔
京都工芸繊維大学
-
増田 政基
京都工芸繊維大学
-
久保田 勘人
京都工芸繊維大学
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