A-3-7 ソフトエラーによる多ビットエラーのラッチ間距離依存性の評価(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)
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概要
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- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-08-28
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学
-
古田 潤
京都大学
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学:JST, CREST
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