商用FPGAのばらつきとBTIによる経年劣化(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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本稿では微細化に伴い顕著になってきたFPGAのばらつきや経年劣化に関する問題に着目し、BTIによるFPGAの経年劣化を定量的に評価し、ばらつきと経年劣化の関連性を示す。90nmと60nmプロセスFPGAの経年劣化の測定を行うために、FPGA上にリングオシレータをマッピングして、その発振周波数の標準偏差を実測した。FPGAの経年劣化に関する測定では温度を室温(25℃)、80℃に保ち、30,000秒経過までの発振周波数のばらつきを測定した。
- 2012-11-19
著者
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小林 和淑
京都大学情報学研究科
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小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
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小林 和淑
京都工芸繊維大学
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小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科:JST,CREST
-
石井 翔平
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科
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