C-12-24 劣化測定と回復測定を高速に切り替え可能なNBTI評価回路(C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-03-06
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
松本 高士
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
-
三木 淳司
京都大学情報学研究科
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