ばらつきを利用し補償するための再構成可能回路(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
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概要
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微細プロセスにおけるチップ内ばらつきによる速度差を利用して、回路の動作速度を高める再構成回路の原理、試作したLSI、その測定結果、再構成による効果について論じる。ばらつき測定機構を十分小さいオーバヘッドで付加でき、確度2%の測定を実現した。単純なモデル回路によりばらつきを利用した最適化の効果を評価した結果、最悪構成に対し、ばらつき幅に相当する平均4%の性能向上と32%の歩留まり向上が達成された。
- 2006-03-03
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
-
尾形 幸亮
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小林 和淑
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム
-
小谷 学
京都大学大学院情報学研究科
-
尾形 幸亮
京都大学大学院情報学研究科
-
香月 和也
京都大学大学院情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
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