小林 和淑 | 京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
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概要
関連著者
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小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
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小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
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小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
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小林 和淑
京都大学情報学研究科
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小野寺 秀俊
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
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小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科:jst Crest
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小林 和淑
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム
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小林 和淑
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湯山 洋一
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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高井 幸輔
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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小林 和淑
京都大学工学研究科
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小野寺 秀俊
京都大学工学部電子工学科
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牧野 紘明
京都大学情報学研究科
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田丸 啓吉
京都大学工学部
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荒本 雅夫
京都大学大学院情報学研究科
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濱中 力
京都工芸繊維大学
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古田 潤
京都大学
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田丸 啓吉
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
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松本 高士
京都大学情報学研究科
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久米 洋平
京都大学大学院情報学研究科
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小林 和淑
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
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湯山 洋一
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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荒本 雅夫
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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高井 幸輔
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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柴山 武英
京都大学情報学研究科通信情報システム
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小林 和淑
京都大学 情報学研究科
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小野寺 秀俊
京都大学
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杉原 有理
京都大学大学院情報学研究科
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古田 潤
京都大学大学院情報学研究科
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武内 昌弘
京都大学工学研究科
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中村 典嗣
京都大学大学院工学研究科
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李 翔
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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松本 高士
京都大学大学院情報学研究科
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田丸 啓吉
京都大学 通信情報システム専攻
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尾形 幸亮
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
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LAI Ngo
京都大学大学院情報学研究科
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小谷 学
京都大学大学院情報学研究科
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木下 雅善
京都大学 工学部
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清水 友人
京都大学 工学部
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尾形 幸亮
京都大学大学院情報学研究科
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江口 真
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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高井 幸輔
京都大学工学部電気電子工学科
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湯山 洋一
京都大学工学部電気電子工学科
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岩橋 卓也
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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山本 亮輔
京都工芸繊維大学
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柴山 武英
京都大学大学院情報学研究科
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ワーサリン ジュンスワディー
京都大学工学部
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牧野 絋明
京都大学情報学研究科
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Cam Lai
京都大学大学院情報学研究科
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安慶 武志
京都大学工学部
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久米 洋平
京都大学情報学研究科
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山岡 雅直
京都大学大学院工学研究科電子通信工学専攻
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小野寺 秀俊
京都大学 情報学研究科 通信情報システム専政
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山口 隼司
京都大学大学院情報学研究科
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清水 友人
京都大学大学院工学研究科電子通信工学
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寺田 一彦
京都大学工学研究科
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中村 典嗣
京都大学工学部
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武内 昌弘
京都大学大学院工学研究科
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武内 昌弘
京都大学 工学部
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小林 幸史
京都大学大学院工学研究科電子通信工学専攻
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山岡 雅直
京都大学 工学部
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荒本 雅夫
京都大学 工学部 電気電子工学科
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湯山 洋一
京都大学 工学部 電気電子工学科
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木下 雅善
京都大学大学院工学研究科
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中西 龍太
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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小野寺 秀俊
京都大学電気電子工学科
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杉原 有理
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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尾形 幸亮
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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小谷 学
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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香月 和也
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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香月 和也
京都大学大学院情報学研究科
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小林 幸史
京都大学情報学研究科通信情報システム専攻
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牧野 紘明
京都大学
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山口 隼司
京都大学電気電子工学科
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小林 和淑
京都大学電気電子工学科
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牧野 紘明
京都大学大学院情報学研究科
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高峰 信
京都大学工学部
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竹村 秀樹
京都大学工学部電子工学科
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Jungurradee Wasarin
京都大学工学部電子工学科
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三木 淳司
京都大学情報学研究科
著作論文
- C-12-18 リーク電流によるNBTI特性の実測による評価(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-68 Subthreshold Leak電流によるNBTI劣化・回復の測定(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-30 NBTI周波数依存性測定回路の検討(評価・モデリング,C-12.集積回路,一般セッション)
- 遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度・歩留まり向上手法(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- 遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度・歩留まり向上手法(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- ランダムばらつきを利用したトラック入れ替えによるFPGAの速度と歩留まり向上(リコンフィギャラブルシステム1,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- C-12-3 卓上テスト環境によるばらつき測定の高速化(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),一般講演)
- 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討(製造性考慮設計,システムオンシリコンを支える設計技術)
- C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF.(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF.(高信頼技術,低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 機能特化型プロセッサアレイによるSoCアーキテクチャ
- ベクトル量子化用機能メモリ型並列プロセッサによる動画像の低ビットレート圧縮システム
- ベクトル量子化用メモリベースプロセッサとその動画像圧縮への応用
- 機能メモリ型並列プロセッサを用いた動画像のベクトル量子化
- BPBP型FMPPを用いたプロセッサボードの設計
- ビット並列ブロック並列方式による機能メモリ型並列プロセッサの設計
- A-3-7 動作合成における制約条件の検討
- SystemCのRTL記述を用いたSH互換プロセッサの設計
- SystemCのRTL記述を用いたSH互換プロセッサの設計
- SystemCのRTL記述を用いたSH互換プロセッサの設計
- A-3-9 SystemCを用いたMPEG-4エンコーダの設計
- SystemCとBachを用いたLSI設計手法
- SystemCとBachを用いたLSI設計手法
- SystemCとBachを用いたLSI設計手法
- A-3-13 SystemC を用いたハードウェア・ソフトウェア設計 : SystemC のRTL記述からHDLへの変換
- A-3-12 SystemC を用いたハードウェア・ソフトウェア強調設計
- ベクトル量子化に適した機能メモリ型並列プロセッサの設計
- FPGAのチップ内ばらつきを利用した再配置による高速化の検討(リコンフィギャラブルシステム,一般)
- ばらつきを利用し補償するための再構成可能回路(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- D-11-47 カメラの動きを用いた動き補償の検討
- A-3-4 耐ソフトエラー二重化フリップフロップのばらつき評価(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)
- EBテスタを用いた論理ゲート遅延ばらつき測定手法の検討
- EBテスタを用いた論理ゲート遅延ばらつき測定手法の検討
- EBテスタを用いた論理ゲート遅延ばらつき測定手法の検討
- ベクトルDSPを用いた携帯端末におけるテレビ電話システム
- 携帯TV電話に適した16並列パイプラインDSPの設計
- 加算機能付きメモリの設計
- A-3-21 実チップにおけるIRドロップの測定
- C-12-21 チェインにおけるパルス幅縮小を利用したSETパルス幅測定回路(デジタル集積回路,C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-20 ディジタル回路遅延の経年劣化とそのモデル化について(デジタル集積回路,C-12.集積回路,一般セッション)
- 測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討(ポスター講演,学生・若手研究会)
- 動きベクトル検出用準同期一次元PEアレイの設計
- 動きベクトル検出用準同期一次元PEアレイの設計
- 加算機能付き画像メモリの設計
- 機能メモリ型並列プロセッサを用いたベクトル量子化による画像情報の圧縮
- ビット並列ブロック並列型FMPPにおける機能メモリのテスト方法
- ビット並列ブロック並列型FMPPアーキテクチャをとるプロトタイプLSIチップの概要
- ビット並列ブロック並列方式による機能メモリ型並列プロセッサの設計
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法(異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法(異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ(学生・若手技術者育成のための研究会)
- C-12-24 劣化測定と回復測定を高速に切り替え可能なNBTI評価回路(C-12.集積回路,一般セッション)