牧野 紘明 | 京都大学情報学研究科
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概要
関連著者
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牧野 紘明
京都大学情報学研究科
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小林 和淑
京都大学情報学研究科
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小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
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小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
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小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
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小林 和淑
京都工芸繊維大学
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小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科:jst Crest
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松本 高士
京都大学情報学研究科
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松本 高士
京都大学大学院情報学研究科
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牧野 絋明
京都大学情報学研究科
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小野寺 秀俊
京都大学工学部電子工学科
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小野寺 秀俊
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
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小野寺 秀俊
京都大学
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濱中 力
京都工芸繊維大学
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古田 潤
京都大学
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古田 潤
京都大学大学院情報学研究科
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牧野 紘明
京都大学
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牧野 紘明
京都大学大学院情報学研究科
著作論文
- C-12-18 リーク電流によるNBTI特性の実測による評価(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-68 Subthreshold Leak電流によるNBTI劣化・回復の測定(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-30 NBTI周波数依存性測定回路の検討(評価・モデリング,C-12.集積回路,一般セッション)
- 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討(製造性考慮設計,システムオンシリコンを支える設計技術)
- 測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 (集積回路)
- 測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討(ポスター講演,学生・若手研究会)
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法(異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法(異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)