松本 高士 | 京都大学情報学研究科
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
松本 高士
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
牧野 紘明
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
-
牧野 絋明
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科:jst Crest
-
三木 淳司
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科:JST CREST
-
松本 高士
京都大学大学院情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科:JST, CREST
-
小野寺 秀俊
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小野寺 秀俊
京都工芸繊維大学工芸科学研究科:JST CREST
著作論文
- C-12-68 Subthreshold Leak電流によるNBTI劣化・回復の測定(C-12.集積回路,一般セッション)
- 測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 (集積回路)
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法(異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法(異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- C-12-24 劣化測定と回復測定を高速に切り替え可能なNBTI評価回路(C-12.集積回路,一般セッション)
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法
- NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法
- C-12-44 劣化測定と回復測定を高速に切り替え可能なNBTI測定回路の特性評価(デバイス・回路協調設計技術(2),C-12. 集積回路,一般セッション)
- ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- ランダム・テレグラフ・ノイズが低電圧CMOS論理回路の遅延ゆらぎに及ぼす影響(IEDM特集(先端CMOSテバイス・プロセス技術))