C-12-44 劣化測定と回復測定を高速に切り替え可能なNBTI測定回路の特性評価(デバイス・回路協調設計技術(2),C-12. 集積回路,一般セッション)
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概要
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- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-08-28
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
松本 高士
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学
-
三木 淳司
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科:JST, CREST
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