C-12-3 卓上テスト環境によるばらつき測定の高速化(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-03-07
著者
-
小林 和淑
京都大学情報学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学工芸科学研究科
-
小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科:jst Crest
-
久米 洋平
京都大学大学院情報学研究科
-
久米 洋平
京都大学情報学研究科
-
小林 和淑
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科電子システム工学専攻:jst Crest
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