測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 (集積回路)

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概要

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• 電子情報通信学会の論文
• 2010-12-16

著者

• 牧野 紘明

  京都大学情報学研究科

• 松本 高士

  京都大学情報学研究科

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