素子微細化が真性半導体ボディSOI-MOSFETのI_<ON>向上効果に与える影響

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概要

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• 2001-03-08

著者

• 黄 俐昭

  Necシリコンシステム研究所

• 最上 徹

  Necシリコンシステム研究所

• 最上 徹

  日本電気(株) マイクロエレクトロニクス研究所

• 黄 俐昭

  NECシステムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所

• 武村 久

  NECシステムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所

• 竹内 潔

  NECシステムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所

• 最上 徹

  NECシステムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所

• 竹内 潔

  NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所

• 黄 俐昭

  Necマイクロエレクトロニクス研究所

• Koh R

  Silicon Systems Research Labs.

• Koh Risho

  Silicon Systems Research Laboratories Nec Corporation

• Koh Risho

  Microelectronics Reserch Laboratory Nec Corp.

• Koh Risho

  Microelectronics Research Laboratories Nec Corporation

• Koh Risho

  Microelectronics Research Labs. Nec Corp.

• Koh Risho

  Silicon Systems Research Laboratory Nec Corporation

• Koh Risho

  Microelectronics Res. Labs. Nec Corp.

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