田原 修一 | 日本電気(株) システムデバイス研究所

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概要

• 同名の論文著者
• 日本電気(株) システムデバイス研究所の論文著者

関連著者

• 田原 修一

  日本電気(株) システムデバイス研究所

• 田原 修一

  NEC基礎研究所

• 田原 修一

  NECシステムデバイス研究所

• 田原 修一

  日本電気(株)基礎研究所

• 田原 修一

  日本電気株式会社

• 與田 博明

  (株)東芝

• 與田 博明

  (株)東芝 研究開発センター

• 與田 博明

  東芝 研開セ

• 沼田 秀昭

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 橋本 義仁

  超電導工学研究所

• 波田 博光

  日本電気(株)

• 橋本 義仁

  財団法人国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所

• 浅尾 吉昭

  (株)東芝研究開発センター

• 土田 賢二

  (株)東芝半導体研究開発センター

• 杉林 直彦

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 浅尾 吉昭

  (株)東芝 研究開発センター

• 杉林 直彦

  Nec Ulsiデバイス開発研究所

• 土田 賢三

  (株)東芝半導体研究開発センター

• 田原 修一

  日本電気(株) 基礎研究所

• 佐藤 哲朗

  超電導工学研究所

• 石綿 延行

  Necデバプラ研

• 日高 睦夫

  日本電気(株)基礎研究所

• 田原 修一

  日本電気株式会社シリコンシステム研究所

• 池川 純夫

  (株)東芝研究開発センター

• 三浦 貞彦

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 佐藤 哲朗

  日本電気(株)基礎研

• 安道 徳昭

  日本電気(株)生産技術研究所

• 土田 賢二

  株式会社東芝研究開発センター

• 與田 博明

  株式会社東芝研究開発センター

• 沼田 秀昭

  NEC基礎研究所

• 橋本 義仁

  NEC基礎研究所

• 安道 徳昭

  日本電気(株)デバイス評価技術研究所

• 日高 睦夫

  国際超電導産業技術研究セ

• 橋本 義仁

  Nec基礎研

• 池川 純夫

  東芝研究開発センター

• 佐藤 哲朗

  日本電気(株)

• 永原 聖万

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 崎村 昇

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 浅尾 吉昭

  株式会社東芝セミコンダクター社、SoC研究開発センター

• 池川 純夫

  株式会社東芝研究開発センター

• 石綿 延行

  日本電気株式会社シリコンシステム研究所

• 永沢 秀一

  Nec基礎研究所

• 本田 雄士

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 波田 博光

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 萬 伸一

  NEC基礎研究所

• 本田 雄士

  Nec基礎研究所

• 永原 聖万

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 萬 伸一

  Nec基礎・環境研究所

• 土田 賢二

  (株)東芝SoC研究開発センター

• 杉林 直彦

  NECシリコンシステム研究所

• 田原 修一

  NECシリコンシステム研究所

• 甲斐 正

  (株)東芝研究開発センター

• 永沢 秀一

  超電導工学研

• 田原 修一

  Nec システムデバイス研

• 水沢 秀一

  NEC 基礎研究所

• Honda T

  Fukuoka Univ. Fukuoka Jpn

• 崎村 昇

  NEC グリーンイノベーション研究所

• 與田 博明

  株式会社東芝半導体研究開発センター

• 齊藤 信作

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 笠井 直記

  NECエレクトロンデバイス先端デバイス開発本部

• 波田 博光

  NECシリコンシステム研究所

• 笠井 直記

  日本電気(株)

• 稲場 恒夫

  (株)東芝ULSI研究所

• 杉林 直彦

  日本電気(株)

• 崎村 昇

  日本電気(株)

• 斉藤 信作

  日本電気(株)

• 三浦 貞彦

  日本電気(株)

• 永原 聖万

  日本電気(株)

• 末光 克巳

  日本電気(株)

• 志村 健一

  日本電気株式会社

• 志村 健一

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 大嶋 則和

  Necデバプラ研

• 杉林 直彦

  日本電気・デバイスプラットフォーム研究所

• 田原 修一

  日本電気(株)ナノエレクトロニクス研究所

• 橋本 義仁

  日本電気(株)基礎研究所

• 永沢 秀一

  日本電気(株)基礎研究所

• 甲斐 正

  株式会社東芝研究開発センター

• 斎藤 信作

  Nec

• 服部 渉

  日本電気(株) 基礎研究所

• 斉藤 信作

  Nec デバイスプラットフォーム研

• 福本 能之

  Necシステムデバイス研究所

• 田中 未知

  Nec基礎研究所

• 池川 純夫

  (株)東芝 基礎研究所

• 石綿 延行

  日本電気株式会社 グリーンイノベーション研究所

• 稲場 恒夫

  (株)東芝半導体研究開発センター

• 笠井 直記

  Nec 先端デバイス開発本部

• 笠井 直記

  東北大学

• 石綿 延行

  日本電気株式会社

• 深見 俊輔

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 鈴木 哲広

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 大嶋 則和

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 根橋 竜介

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 本庄 弘明

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 森 馨

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 仲川 博

  独立行政法人産業技術総合研究所

• 吉川 将寿

  (株)東芝 研究開発センター

• 天野 実

  (株)東芝研究開発センター

• 斉藤 好昭

  (株)東芝 研究開発センター

• 斉藤 好昭

  東芝

• 仲川 博

  電子技術総合研究所

• 青柳 昌宏

  電子技術総合研究所

• 佐藤 哲郎

  日本電気(株)システムデバイス基礎研究本部

• 吉武 務

  日本電気(株)基礎研

• 吉川 将寿

  東芝 研究開発センター

• 斉藤 好昭

  株式会社東芝研究開発センター

• 上田 知正

  株式会社東芝研究開発センター

• 菊田 邦子

  日本電気株式会社シリコンシステム研究所

• 岸 達也

  株式会社東芝研究開発センター

• 浅尾 吉昭

  東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター 不揮発性メモリデバイス技術開発部

• 與田 博明

  東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター 不揮発性メモリデバイス技術開発部

• 天野 実

  東芝研究開発センター

• 高田 進

  埼玉大学大学院理工学研究科

• 根橋 竜介

  日本電気(株)

• 本庄 弘明

  日本電気(株)

• 加藤 有光

  日本電気(株)

• 森 馨

  日本電気(株)

• 大嶋 則和

  日本電気(株)

• 鈴木 哲広

  日本電気(株)

• 石綿 延行

  日本電気(株)

• 深見 俊輔

  日本電気(株)

• 杉林 直彦

  日本電気株式会社

• 辻 清孝

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 福本 能之

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 齋藤 信作

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 向井 智徳

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 斎藤 信作

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 末光 克巳

  NEC機能エレクトロニクス研究所

• 大嶋 則和

  Nec

• 福本 能之

  NEC

• 沼田 秀昭

  NEC

• 松原 洋一

  日本大学原子力研究所

• 松原 洋一

  日本大学

• 萬 伸一

  日本電気(株)基礎研究所

• 小池 雅志

  日本電気(株)基礎研究所

• 田原 修一

  日本電気 (株) 基礎研究所

• 黒沢 格

  電子技術総合研究所

• 高田 進

  電子技術総合研究所

• 糸崎 秀夫

  住友電気工業(株)

• 野口 隆志

  池上技術,編集委員

• 早川 尚夫

  名古屋大学工学研究科

• 玉田 紀治

  電子技術総合研究所

• 石綿 延行

  NECシステムデバイス研究所

• 糸崎 秀夫

  住友電工伊丹研

• 糸崎 秀夫

  住友電気工業株式会社伊丹研究所

• 與田 博明

  東芝

• 堀口 文男

  東洋大学工学部コンピュテーショナル工学科

• 萬 伸一

  日本電気(株)基礎・環境研究所

• 服部 渉

  NEC基礎研究所

• 浅尾 吉昭

  株式会社 東芝、研究開発センター

• 與田 博明

  株式会社 東芝、研究開発センター

• 野口 隆志

  池上技術

• 野口 隆志

  池上技術 編集委員

• 田原 修一

  NEC 基礎研究所

• 日高 睦夫

  財)国際超電導産業技術研究センター

• 早川 尚夫

  名古屋大学

• 岸 達也

  (株)東芝研究開発センター

• 斎藤 信作

  日本電気(株)

• 小池 雅志

  NEC基礎研究所

• 糸崎 秀夫

  住友電気工業 伊丹研

• 崎村 昇

  NECシリコンシステム研究所

• 本田 雄士

  NECシリコンシステム研究所

• 三浦 貞彦

  NECシリコンシステム研究所

• 沼田 秀昭

  NECシリコンシステム研究所

• 沼田 秀昭

  NEC 基礎研究所

• 三浦 貞彦

  NEC 基礎研究所

• 早川 尚夫

  名古屋大学大学院工学研究科

• 堀口 文男

  (株)東芝セミコンダクター社

• 天野 実

  東芝

• 黒沢 格

  日本女子大学理学部数物科学科

• 松原 洋一

  日本大学理工学部原子研究所

• 菊田 邦子

  日本電気株式会社ulsiデバイス開発研究所

• 松原 洋一

  日本大学理工学部原子力研究所

• 斉藤 好昭

  東芝 研開セ

• 服部 渉

  Nec 基礎・環境研

• 仲川 博

  独立行政法人産業総合研究所

• 三浦 貞彦

  日本電気 グリーンイノベーション研究所

• 永原 聖万

  Nec

• 青柳 昌宏

  東京理科大学大学院:独立行政法人産業技術総合研究所

• 吉武 務

  NEC基礎研究所

• 甲斐 正

  (株)東芝 研究開発センター

• 本庄 弘明

  日本電気株式会社グリーンプラットフォーム研究所

• 吉武 務

  日本電気(株)

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著作論文

• 高温超伝導サンプラーを用いた高周波電流波形観測
• 高温超伝導サンプラーを用いたGHz帯正弦波電流の非接触計測
• SC-6-1 高温超伝導サンプラーを用いた非接触電流波形観測
• 高温超伝導サンプラーを用いたGHz電流波形計測装置
• 高温超伝導体を用いた超高速計測技術
• [特別招待講演]MRAMの高性能化とその課題(MRAM,不揮発メモリ,メモリ,一般)
• 4MbMRAMとその応用(新メモリ技術とシステムLSI)
• 4Mb-MRAMのインテグレーション技術
• 高耐熱 Ni_xFe_/Al-oxide/Ta フリー層を用いた強磁性トンネル接合の磁化反転特性
• ジョセフソン256ワード16ビットRAMの高周波クロック動作
• 2000ゲートジョセフソン論理回路のためのトランスフォーマーによるGHzクロック供給実験 (超伝導エレクトロニクス/一般)
• 超電導エレクトロニクスについて
• 大容量、高速、低電力、6F^2 MRAMセルのデバイスデザインおよびプロセスインテグレーション : 新しい磁化反転方式の提案(新型不揮発性メモリ)
• 大容量、高速、低電力、6F^2 MRAMセルのデバイスデザインおよびプロセスインテグレーション : 新しい磁化反転方式の提案
• MRAM技術の進展と課題(新型不揮発性メモリー)
• 高温超伝導遅延線を高スループットATMスイッチに用いるための初期検討
• 混載メモリ用途に適した抵抗比読み出し型MRAM
• 人と地球にやさしい情報社会の実現をサポートするナノテクノロジー(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)
• 大容量MRAM技術の開発 : 新規MTJ形状と精密MTJエッチングによる書き込みマージンの拡大(新型不揮発性メモリ)
• MRAMの開発の現状と将来性(新メモリ技術,メモリ応用技術,一般)
• MRAMの特徴とMRAM技術
• 混載メモリ用途に適した抵抗比読み出し型MRAM(回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
• 高速ATMセルバッファ用高温超伝導遅延線メモリの提案
• 超伝導集積回路へのGHzクロック給電のためのマルチバンド整合回路
• 超伝導リングネットワークのためのリンダインターフェーススイッチの動作実験
• ジョセフソンBISTシステムの設計
• 512KbクロスポイントセルMRAM(MRAM,不揮発メモリ,メモリ,一般)
• 磁気ランダムアクセスメモリ(MRAM)
• スピントンネル素子を用いた1 bit MRAMの検討
• 超伝導論理回路の高速動作実証のためのクロック・ドリブン・オンチップ・テスト
• 超電導ネットワークシステムの開発 (特集 超電導特集) -- (ジョセフソン素子ハイブリツドシステムの技術開発)
• MRAM多層化におけるMTJ抵抗の重み付け係数の最適化
• 人と地球にやさしい情報社会の実現をサポートするナノテクノロジー(低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用)

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