佐藤 哲朗 | 日本電気(株)基礎研
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概要
関連著者
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佐藤 哲朗
日本電気(株)基礎研
-
五十嵐 等
日電基礎研
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藤田 淳一
日本電気(株)基礎研
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吉武 務
NECグリーンイノベーション研究所
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佐藤 哲朗
日本電気(株)
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久保 佳実
NEC基礎研
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久保 佳実
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部 基礎研究所
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佐藤 哲朗
超電導工学研究所
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日高 睦夫
日本電気(株)基礎研究所
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田原 修一
日本電気(株)基礎研究所
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五十嵐 等
NEC基礎研
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久保 佳実
日本電気(株)基礎研
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田原 修一
日本電気(株) システムデバイス研究所
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久保 佳実
Necトーキン株式会社研究開発本部
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田原 修一
日本電気(株) 基礎研究所
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安道 徳昭
日本電気(株)生産技術研究所
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佐藤 哲朗
NEC基礎研究所
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吉武 務
日電 基礎研
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吉武 務
NEC基礎研
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藤田 淳一
NEC基礎研
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吉武 務
日本電気(株)基礎研
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五十嵐 等
日本電気(株)基礎研
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安道 徳昭
日本電気(株)デバイス評価技術研究所
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久保 佳実
日本電気(株)基礎研究所
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日高 睦夫
国際超電導産業技術研究セ
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久保 佳実
NEC中央研究所
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五十嵐 等
日本電気(株)(前)人事教育部
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五十嵐 等
日本電気(株)
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久保 佳実
日本電気(株)
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島川 裕一
NEC基礎研
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中島 順一郎
日本電気(株)資源環境技術研究所
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島川 祐一
日本電気(株)基礎研究所
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上條 敦
日電基礎研
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真子 隆志
Fundamental Research Laboratories Nec Corporation
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吉武 務
日本電気(株)
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藤田 淳一
日本電気(株)
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島川 祐一
NEC基礎研
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上條 敦
NEC基礎研究所
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柘植 久尚
NEC基礎研究所
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佐藤 哲郎
日本電気(株)システムデバイス基礎研究本部
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竹内 一郎
日電 基礎研
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蔡 兆申
日電 基礎研
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石坂 智
日電 基礎研
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佐藤 哲朗
日電 基礎研
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藤田 淳一
日電 基礎研
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三浦 貞彦
NEC基礎研
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真子 隆志
NEC基礎研
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中林 幸信
NEC基礎研
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井元 祥子
NEC基礎研
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日比谷 孟俊
NEC基礎研
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佐藤 哲朗
資源環境研
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真子 隆志
NEC 基礎研
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島川 祐一
NEC 基礎研
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久保 佳実
NEC 基礎研
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佐藤 哲朗
NEC 資源研
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五十嵐 等
NEC 基礎研
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上條 敦
日本電気(株)基礎研究所
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佐藤 哲朗
資源研
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中島 順一郎
資源研
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日比谷 孟俊
Nec 基礎研
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吉武 務
日本電気(株)基礎研究所
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日高 睦夫
財)国際超電導産業技術研究センター
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中林 幸信
東北大理
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三浦 貞彦
超電導工学研
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蔡 兆申
日電基礎研
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吉武 務
NEC基礎研究所
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五十嵐 等
日本電気(株)基礎研究所
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上條 敦
NEC基礎研
著作論文
- 高温超伝導サンプラーを用いた高周波電流波形観測
- SC-6-1 高温超伝導サンプラーを用いた非接触電流波形観測
- 高温超伝導サンプラーを用いたGHz電流波形計測装置
- 高温超伝導体を用いた超高速計測技術
- 29p-ZK-3 低温STMによる酸化物超伝導体薄膜上における単一電子トンネル効果
- 28p-APS-31 Nd_Ce_xCuO_薄膜の電気特性の酸素濃度依存性(II)
- 28p-APS-30 傾斜基板上のBi系単結晶薄膜合成とその電気伝導異方性
- 25a-PS-74 Nd_Ce_xCuO_薄膜の電気特性の酸素濃度依存性
- Tl_2Ba_2CuO_5単結晶の合成と評価
- 5p-ZA-6 Pb_2Ba_2(Y_Ca_x)Cu_3O_の合成と評価
- 5a-Y-14 Tl系超伝導体における元素置換と構造の関係
- イオンビーム・スパッタ法による酸化物超伝導薄膜
- 28p-PS-38 IBS法による酸化物超伝導薄膜の特性
- 多元蒸着法によるBi-Sr-Ca-Cu-O薄膜の作製