五十嵐 等 | NEC基礎研
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概要
関連著者
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五十嵐 等
NEC基礎研
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五十嵐 等
日電基礎研
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久保 佳実
NEC基礎研
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島川 祐一
日本電気(株)基礎研究所
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真子 隆志
Fundamental Research Laboratories Nec Corporation
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島川 裕一
NEC基礎研
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島川 祐一
NEC基礎研
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真子 隆志
NEC基礎研
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久保 佳美
NEC基礎研究所
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三塚 勉
NEC基礎研究所
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三塚 勉
Nec基礎研
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上條 敦
NEC基礎研
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佐藤 哲朗
日本電気(株)基礎研
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上條 敦
NEC基礎研究所
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藤田 淳一
NEC基礎研
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藤田 淳一
日本電気(株)基礎研
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近藤 卓
NEC基礎研
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上條 敦
NEC機能デバイス材料研究本部
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佐藤 哲朗
NEC基礎研究所
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吉武 務
NEC基礎研
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泉 富士夫
無機材研
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浅野 肇
筑波大物質工
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吉武 務
日電 基礎研
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浅野 肇
筑波大物質
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吉武 務
NECグリーンイノベーション研究所
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柘植 久尚
NEC基礎研究所
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三浦 貞彦
NEC基礎研
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久保 佳実
日本電気(株)基礎研
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真子 隆志
NEC 基礎研
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島川 祐一
NEC 基礎研
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久保 佳実
NEC 基礎研
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中島 順一郎
日本電気(株)資源環境技術研究所
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佐藤 哲朗
資源研
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中島 順一郎
資源研
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上篠 敦
NEC基礎研
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上條 敦
日電基礎研
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久保 佳実
日本電気(株)基礎研究所
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久保 佳実
Necトーキン株式会社研究開発本部
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久保 佳実
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部 基礎研究所
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三浦 貞彦
超電導工学研
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吉武 務
NEC基礎研究所
著作論文
- 28p-APS-31 Nd_Ce_xCuO_薄膜の電気特性の酸素濃度依存性(II)
- 28p-APS-30 傾斜基板上のBi系単結晶薄膜合成とその電気伝導異方性
- Tl_2Ba_2CuO_5単結晶の合成と評価
- 28p-PS-38 IBS法による酸化物超伝導薄膜の特性
- 28p-APS-29 TlSr_2(Ca_Lu_x)Cu_2O_yの酸素量とTc
- 26p-Y-4 過剰ドープされたTl系超伝導体の輸送現象と磁性
- 25a-PS-77 TlSr_2CaCu_2O_7δの酸素量、構造及び物性
- 3a-G-3 Co/Al 人工格子の構造と磁性(II)
- 30a-H-13 Co/Ag人工格子の構造と磁性
- 28p-APS-28 Tl_2Ba_2CuO_6における正方晶、斜方晶構造(II)
- 28p-APS-27 Tl_2Ba_2CuO_6単結晶の合成と評価(III)
- 30p-K-3 極薄Al膜の配向性と電気伝導
- 25a-PS-76 Tl_2Ba_2CuO_6単結晶の合成と評価(II)
- 25a-PS-75 Ti_2Ba_2Cuo_6における正方晶、斜方晶構造
- Tl_2Ba_2CuO_の中性子線回折
- 3a-H-7 Co/Al人工格子の構造と磁性 III
- 31p-PS-64 Tl系超伝導体のキャリア濃度と超伝導特性
- 30p-TD-8 T1系超伝導体の電気的磁気的特性
- 29a-PS-71 Co/Al人工格子の構造と磁性(29a PS 磁性(C, F, H))