28p-APS-31 Nd_<2-x>Ce_xCuO_<4-y>薄膜の電気特性の酸素濃度依存性(II)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-09-12
著者
-
佐藤 哲朗
日本電気(株)基礎研
-
佐藤 哲朗
NEC基礎研究所
-
吉武 務
日電 基礎研
-
吉武 務
NEC基礎研
-
藤田 淳一
NEC基礎研
-
五十嵐 等
NEC基礎研
-
藤田 淳一
日本電気(株)基礎研
-
吉武 務
NECグリーンイノベーション研究所
-
五十嵐 等
日電基礎研
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