25a-PS-74 Nd_<2-x>Ce_xCuO_<4-y>薄膜の電気特性の酸素濃度依存性
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1991-03-11
著者
-
久保 佳実
NEC基礎研
-
佐藤 哲朗
日本電気(株)基礎研
-
吉武 務
日本電気(株)基礎研
-
藤田 淳一
日本電気(株)基礎研
-
久保 佳実
日本電気(株)基礎研
-
五十嵐 等
日本電気(株)基礎研
-
吉武 務
NECグリーンイノベーション研究所
-
久保 佳実
日本電気(株)基礎研究所
-
久保 佳実
Necトーキン株式会社研究開発本部
-
久保 佳実
NEC中央研究所
-
五十嵐 等
日電基礎研
-
久保 佳実
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部 基礎研究所
-
五十嵐 等
日本電気(株)(前)人事教育部
-
佐藤 哲朗
日本電気(株)
-
五十嵐 等
日本電気(株)
-
久保 佳実
日本電気(株)
-
吉武 務
日本電気(株)
-
藤田 淳一
日本電気(株)
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