強誘電体SrBi_2Ta_2O_9の結晶構造解析と誘電特性, 還元劣化機構の解明
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概要
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- 粉体粉末冶金協会の論文
- 2002-03-15
著者
-
久保 佳実
日本電気(株)基礎研
-
久保 佳実
日本電気(株)基礎・環境研究所
-
島川 祐一
日本電気(株)基礎研究所
-
久保 佳美
NEC基礎研究所
-
久保 佳実
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部 基礎研究所
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