超伝導論理回路の高速動作実証のためのクロック・ドリブン・オンチップ・テスト
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-03-06
著者
-
橋本 義仁
超電導工学研究所
-
田原 修一
NEC基礎研究所
-
沼田 秀昭
日本電気(株)システムデバイス研究所
-
田原 修一
日本電気(株) システムデバイス研究所
-
沼田 秀昭
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
NEC基礎研究所
-
萬 伸一
NEC基礎研究所
-
田原 修一
NECシステムデバイス研究所
-
萬 伸一
Nec基礎・環境研究所
-
橋本 義仁
財団法人国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
-
橋本 義仁
Nec基礎研
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