沼田 秀昭 | NEC基礎研究所
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
田原 修一
NEC基礎研究所
-
沼田 秀昭
日本電気(株)システムデバイス研究所
-
沼田 秀昭
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
超電導工学研究所
-
橋本 義仁
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
財団法人国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
-
橋本 義仁
Nec基礎研
-
永沢 秀一
Nec基礎研究所
-
永沢 秀一
超電導工学研
-
水沢 秀一
NEC 基礎研究所
-
萬 伸一
NEC基礎研究所
-
萬 伸一
Nec基礎・環境研究所
-
田原 修一
NECシステムデバイス研究所
-
田原 修一
日本電気(株) システムデバイス研究所
-
小池 雅志
NEC基礎研究所
-
田中 未知
Nec基礎研究所
-
水沢 秀一
NEC基礎研究所
-
加藤 千夏
NEC基礎研究所
-
土田 早苗
NEC基礎研究所
-
加藤 千夏
NEC 基礎研究所
著作論文
- ジョセフソン256ワード16ビットRAMの高周波クロック動作
- 高速ジョセフソン記憶回路技術
- 磁束トラップ防止技術と4KRAMへの適用
- ECRプラズマエッチングとバイアススパッタ平坦化によるジョセフソン記憶セルの微細化
- ジョセフソンデジタルLSI技術
- ジョセフソン記憶回路の高周波クロック動作 (超伝導エレクトロニクス/一般)
- ジョセフソン256ワールド16ビットRAMの設計
- GHzクロックメモリテスター(JBIST)の測定評価
- ジョセフソンドライバ回路のGHzクロック動作の評価
- 超伝導集積回路へのGHzクロック給電のためのマルチバンド整合回路
- 超伝導リングネットワークのためのリンダインターフェーススイッチの動作実験
- オンチップ信号発生回路によるジョセフソン論理回路の高速動作試験
- 超伝導論理回路の高速動作実証のためのクロック・ドリブン・オンチップ・テスト
- ジョセフソン高速信号発生回路の提案と評価
- 超伝導ネットワークシステムスイッチングノードの動作実験
- 超伝導データ交換スイッチの基本動作実験