オンチップ信号発生回路によるジョセフソン論理回路の高速動作試験
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概要
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ジョセフソン論理回路の高速動作試験のための、オンチップテスト信号発生回路を開発したこ、このテスト信号発生回路は最終段のDフリップフロップの補信号出力を初段のDフリップフロップにフィードバックしたシフトレジスタを構成要素とし、外部からの制御信号を一切用いずに、クロック信号を供給するだけで繰り返し信号パターンを発生する。このテスト信号発生回路はDフリップフロップだけで構成され、クロック信号だけで動作するので設計および高周波領域での論理動作試験を非常に簡単にするとができる。1ビットのテスト信号発生回路の高速評価を行い、このテスト信号発生回路が4.6GHz以上のクロック周波数で動作する可能性が示された。さらに、2ビットのテスト信号発生回路を用いて2ビットの論理回路の動作試験を行いクロック1GHzでの論理動作試験に成功し、このテスト信号発生回路が高速論理動作試験への適用に有効であることを確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-11-20
著者
-
橋本 義仁
超電導工学研究所
-
田原 修一
NEC基礎研究所
-
沼田 秀昭
日本電気(株)システムデバイス研究所
-
沼田 秀昭
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
NEC基礎研究所
-
萬 伸一
NEC基礎研究所
-
田原 修一
NECシステムデバイス研究所
-
萬 伸一
Nec基礎・環境研究所
-
橋本 義仁
財団法人国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
-
田中 未知
Nec基礎研究所
-
小池 雅志
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
Nec基礎研
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