GHzクロックメモリテスター(JBIST)の測定評価
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概要
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我々はこれまでにジョセフソンRAMのGHzクロックでの動作評価を目的として、ジョセフソン素子によるビルトイン・セルフテストシステム(以下JBISTシステム)を構成することを提案し、設計を行った。今回256ビットRAMの機能試験のためのJBIST回路を試作し側定評価を行ったので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-09-05
著者
-
橋本 義仁
超電導工学研究所
-
田原 修一
NEC基礎研究所
-
永沢 秀一
Nec基礎研究所
-
沼田 秀昭
日本電気(株)システムデバイス研究所
-
沼田 秀昭
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
NEC基礎研究所
-
加藤 千夏
NEC基礎研究所
-
橋本 義仁
財団法人国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
-
永沢 秀一
超電導工学研
-
橋本 義仁
Nec基礎研
-
水沢 秀一
NEC 基礎研究所
-
加藤 千夏
NEC 基礎研究所
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