高温下の耐性・撮像性能を改善した広ダイナミックレンジCMOSイメージセンサ(<小特集>イメージセンシング技術とその応用)
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概要
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A 1/4-inch VGA wide-dynamic-range complementary metal oxide semiconductor (CMOS) image sensor with resistance to high temperatures has been developed using a lateral overflow capacitor in a pixel, a very low dark-current front-end-of-line (VLDC FEOL), and either an inorganic cap layer on an on-chip-micro-lens (OCML) or a metal hermetically sealed package to suppress the degradation of the spectra response of the OCML and color filter. The dark current level was reduced to 25e^-/sec/pixel at 60℃. Sensor chips with no cap and ones with the inorganic cap layer on the OCML were assembled into either a metal hermetically sealed package or a conventional package. The chips with the inorganic cap layer and the ones with the metal hermetically sealed package showed no significant degradation of the spectra response in any of the R/G/B pixels even after a thermal stress test at 150℃. Improved image sensing performances were observed up to 85℃, and the dynamic range was extended to 94dB.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2008-03-01
著者
-
赤羽 奈々
東北大学 大学院 工学研究科
-
須川 成利
東北大学 大学院 工学研究科
-
須川 成利
東北大学大学院工学研究科
-
溝渕 孝一
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
-
赤羽 奈々
東北大学大学院工学研究科
-
足立 理
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
-
山下 友和
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
-
岡村 誠一郎
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
-
押久保 弘道
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
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