Evidence for Creation of Gallium Antisite Defect in Surface Region of Bleat-Treated GaAs
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1986-10-20
著者
-
Hiramoto Toshiro
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Hiramoto Toshiro
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
IKOMA Toshiaki
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
MOCHIZUKI Yasunori
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
-
Mochizuki Yasunori
Institute Of Industrial Science University Of Tokyo
-
Mochizuki Yasuhiro
Hitachi Research Laboratory Hitachi Ltd.
-
Ikoma T
Univ. Tokyo Tokyo Jpn
-
Ikoma Toshiaki
Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
Ikoma Toshiaki
The Institute Of Industrial Science The University Of Tokyo
-
HIRAMOTO Toshiro
Institute Industrial Science, The University of Tokyo
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