原子的に平坦化されたSi(111)表面へのCuナノ細線の形成と原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による評価
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概要
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- 日本赤外線学会の論文
- 2006-02-28
著者
-
山崎 聡
産総研ナノテク部門
-
三木 一司
物材機構
-
三木 一司
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
-
三木 一司
電総研
-
西澤 正泰
半導体MIRAI産業技術総合研究所次世代半導体研究センター
-
蓮沼 隆
筑波大学大学院数理物質科学研究科
-
山部 紀久夫
筑波大学大学院数理物質科学研究科
-
三木 一司
物材機構ナノマテ:産総研ナノテク
-
三木 一司
物材・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
-
三木 一司
産業技術総合研究所 ダイヤモンド研究センター
-
三木 一司
物質・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
-
三木 一司
(独)物質・材料研究機構 ナノ有機センター
-
三木 一司
(独)物質・材料研究機構ナノ有機センターナノアーキテクチャーグループ
-
徳田 規夫
筑波大学 電子・物理工学専攻
-
西澤 正泰
産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
-
山崎 聡
筑波大学 電子・物理工学専攻
-
蓮沼 隆
筑波大学 電子・物理工学専攻
-
山部 紀久夫
筑波大学 電子・物理工学専攻
-
山崎 聡
東芝メディカルシステムズ株式会社:jeita超音波専門委員会
-
山崎 聡
Jrcat(アトムテクノロジー研究体)-nair(産業技術融合領域研究所)
-
西澤 正泰
産業技術総合研
-
徳田 規夫
金沢大学大学院自然科学研究科電子情報科学専攻:産業技術総合研究所エネルギー技術研究部門:独立行政法人科学技術振興機構,CREST
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