27pYC-12 シリコンカーバイドにおける空孔欠陥のESRによる研究

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2001-03-09

著者

• 森下 憲雄

  原研高崎研

• 伊藤 久義

  原研高崎研

• 山崎 聡

  産総研ナノテク部門

• 伊藤 久義

  原子力機構

• 森下 憲雄

  原子力研究開発機構

• 森下 憲雄

  原研高崎

• 磯谷 順一

  筑波大図情メディア

• 水落 憲和

  図情大

• 磯谷 順一

  図情大

• 山崎 聡

  JRCAT-融合研

• 瀧澤 春喜

  原研高崎

• 大嶋 武

  原研高崎

• 伊藤 久義

  日本原子力研究所高崎研究所

• 伊藤 久義

  原研

• 伊藤 久義

  原研高崎

• 伊藤 久義

  日本原子力研究所 高崎研究所 材料開発部

• 山崎 聡

  筑波大学 電子・物理工学専攻

• 瀧澤 春喜

  日本原子力研究所 高崎研究所

• 水落 憲和

  筑波大図書館情報メディア:jstさきがけ:産総研ナノテク部門

• 山崎 聡

  東芝メディカルシステムズ株式会社:jeita超音波専門委員会

• 山崎 聡

  Jrcat(アトムテクノロジー研究体)-nair(産業技術融合領域研究所)

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