STMによるキャリア分布測定のデバイスシミュレーション
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概要
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- 2011-11-03
著者
-
金山 敏彦
産業技術総合研究所
-
西澤 正泰
半導体MIRAI産業技術総合研究所次世代半導体研究センター
-
多田 哲也
産業技術総合研究所
-
金山 敏彦
産業技術総合研 次世代半導体研究セ
-
福田 浩一
産業技術総合研究所
-
BOLOTOV Leonid
筑波大学
-
鈴木 腕
富士通セミコンダクター
-
佐藤 成生
富士通セミコンダクター
-
有本 宏
産業技術総合研究所
-
西澤 正泰
産業技術総合研
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