Si表面で形成されるBi細線の電子顕微鏡観察
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概要
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- 2000-05-01
著者
-
三木 一司
物材機構
-
坂本 邦博
電総研
-
Bowler D.r.
オックスフォード大学
-
三木 一司
電総研
-
Owen J.H.G.
オックスフォード大
-
Briggs G.A.D.
オックスフォード大
-
三木 一司
電子技術総合研究所
-
坂本 邦博
電子技術総合研究所
-
松畑 洋文
電子技術総合研究所
-
三木 一司
物質・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
-
三木 一司
(独)物質・材料研究機構ナノ有機センターナノアーキテクチャーグループ
-
Owen J.h.g.
オックスフォード大学
-
Briggs G.a.d.
オックスフォード大学
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