30p-H-4 Si(001)3°オフ基板表面のSTM観察
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1993-03-16
著者
-
坂本 邦博
電総研
-
三木 一司
電子技術総合研究所
-
坂本 邦博
電子技術総合研究所
-
徳本 洋志
アトムテクノロジー研究体-産業技術融合領域研究所
-
坂本 統徳
電子技術総合研究所電子デバイス部
-
森田 行則
アトムテクノロジー研究体-産業技術融合領域研究所
-
徳本 洋志
アトムテクノロジー研究体
-
徳本 洋志
産業技術融合領域研究所
-
森田 行則
産業技術融合領域研究所
-
坂本 統徳
電子技術総合研究所
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