30p-N-6 高温STMを用いた表面インデンテーションによるシリコンの細線の作成とその電気伝導評価

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1998-03-10

著者

• 米田 忠弘

  東北大学多元物質科学研究所

• 徳本 洋志

  北大電子研

• 徳本 洋志

  Jrcat-nair

• 徳本 洋志

  アトムテクノロジー研究体-産業技術融合領域研究所

• 徳本 洋志

  アトムテクノロジー研究体

• 蓮沼 隆

  JRCAT-ATP

• 米田 忠弘

  Tesxas Instruments

• 蓮沼 隆

  アトムテクノロジー研究体

• 米田 忠弘

  東北大多元研:crest-jst

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