6a-T-4 Si(111)劈開面のSTM観察
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1989-09-12
著者
-
村上 寛
産総研
-
渡辺 真二
小坂研究所
-
村上 寛
電子技術総合研究所
-
三木 一司
電子技術総合研究所
-
徳本 洋志
電総研
-
井上 明
セイコー電子工業(株)
-
渡辺 和俊
セイコー電子工業
-
本間 昭彦
セイコー電子工業
-
徳本 洋志
電子技術総合研究所
-
岡野 真
電子技術総合研究所
-
岡山 重夫
電子技術総合研究所
-
小林 好行
小坂研究所
-
徳本 洋志
Jrcat-nair
-
岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
-
岡野 真
電総研
-
脇山 茂
セイコー電子工業
-
安藤 和徳
セイコー電子工業
-
井上 明
セイコー電子工業
-
脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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