脇山 茂 | セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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概要
関連著者
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脇山 茂
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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徳本 洋志
電総研
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電総研
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電総研
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電総研
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セイコー電子工業
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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岡野 真
電総研
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村上 寛
電総研
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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岡山 重夫
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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板東 寛
電子技術総合研究所
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阪東 寛
産総研
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三木 一司
電子技術総合研究所
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水谷 亘
電総研
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徳本 洋志
電子技術総合研究所
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岡野 真
電子技術総合研究所
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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徳本 洋志
Jrcat-nair
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)
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村上 寛
産総研
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村上 寛
電子技術総合研究所
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遠藤 和弘
電総研
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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坂井 文樹
セイコー電子工業
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杉原 和佳
(株)東芝マイクロエレクトロニクス研究所
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渡辺 真二
小坂研究所
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坂本 邦博
電総研
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三木 一司
電総研
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繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
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藤野 直彦
三菱電機(株)材料研
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本間 昭彦
セイコー電子工業
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森田 直威
東レリサーチ
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
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水谷 亘
電子技術総合研究所
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小林 好行
小坂研究所
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酒井 明
東芝超LSI研
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杉原 和佳
東芝超LSI研
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杉原 和佳
(株)東芝
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岡山 重夫
電総研
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小野 祐一
電総研
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大森 雅司
島田理化工業(株)
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
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小林 淳二
三菱電機(株)先端技術総合研究所
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阪東 寛
電子技術総合研究所
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酒井 明
京都大学工学部付属メゾ材料研究センター
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堀池 靖浩
(株)東芝
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井上 明
セイコー電子工業(株)
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堀池 靖浩
東大院工
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堀池 靖浩
東芝超lsi研:現広大工
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脇山 茂
セイコ・電子工業
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宮田 千加良
セイコ・電子工業
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繁野 雅次
セイコ・電子工業
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本間 昭彦
セイコ・電子工業
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渡辺 和俊
セイコ・電子工業
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坂井 文樹
セイコ・電子工業
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中川 春樹
小坂研究所
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松本 文雄
小坂研究所
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(株)東芝研究開発センターULSI研究所
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赤間 善昭
東芝超LSI研
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阪東 寛
産業技術総合研
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坂東 寛
電総研
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安藤 和徳
セイコー電子工業
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小林 淳二
三菱電機(株)
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狩野 勇
三菱電機(株)先端技術総合研究所
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倉本 一雄
三菱電機(株)先端技術総合研究所
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井上 明
セイコー電子工業
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堀池 靖浩
東洋大学工学部電気電子工学科
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堀池 靖浩
極端紫外線露光システム技術開発機構(euva)
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杉原 和佳
東芝
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狩野 勇
三菱電機(株)
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繁野 雅次
セイコー電子工業
著作論文
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- 27a-P-7 UHV-STMによるSi清浄表面の観察
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- 28a-R-11 STS/STMによる超伝導エネルギーギャップ分布の測定
- 27a-P-9 STS/STMによる層状物質の局所状態密度関数の測定
- 6a-T-4 Si(111)劈開面のSTM観察
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- シリコン結晶起因表面欠陥の原子間力顕微鏡観察と生成機構
- 2a-T-8 Si(111)劈開面のSTM像と構造モデル
- Si表面のSTMによる観察 (超格子素子基礎技術) -- (極薄膜ヘテロ界面の構造と特性評価)
- 位置決め機能付き原子間力顕微鏡の開発
- 位置決め機能付き原子間力顕微鏡を用いた洗浄評価技術
- 30a-H-3 STMによる2H-NbSe_2の表面原子像と振幅異常(表面・界面)
- 30a-H-2 半導体表面用UHV-STM(表面・界面)
- 31p-F4-13 UHV-STMによるSi表面の観察(II)(表面・界面)