梶村 皓二 | 電子技術総合研究所
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概要
関連著者
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
-
徳本 洋志
電子技術総合研究所
-
小野 雅敏
電子技術総合研究所
-
梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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阪東 寛
電子技術総合研究所
-
徳本 洋志
電総研
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水谷 亘
電子技術総合研究所
-
小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
-
水谷 亘
JRCAT-NAIR
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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阪東 寛
産総研
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小野 雅敏
電総研
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岡野 真
電子技術総合研究所
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岡野 真
電総研
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山崎 聡
電子技術総合研究所
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三木 一司
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
電子技術総合研究所
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徳本 洋志
Jrcat-nair
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岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)
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脇山 茂
セイコー電子工業
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御子柴 宣夫
東北大通研
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阪東 寛
産業技術総合研
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田中 一宜
アトムテクノロジー研究体-融合研
-
田中 一宜
電子技術総合研究所
-
御子柴 宣夫
電子技術総合研究所
-
脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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村上 寛
産総研
-
吉広 和夫
電総研
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山崎 聡
産総研ナノテク部門
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渡辺 真二
小坂研究所
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村上 寛
電子技術総合研究所
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梶村 皓二
電総研
-
三沢 俊司
電総研
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繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
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渡辺 和俊
セイコー電子工業
-
本間 昭彦
セイコー電子工業
-
吉田 貞史
電子技術総合研究所
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脇山 茂
セイコ・電子工業
-
宮田 千加良
セイコ・電子工業
-
繁野 雅次
セイコ・電子工業
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本間 昭彦
セイコ・電子工業
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渡辺 和俊
セイコ・電子工業
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坂井 文樹
セイコ・電子工業
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小林 好行
小坂研究所
-
中川 春樹
小坂研究所
-
松本 文雄
小坂研究所
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板東 寛
電子技術総合研究所
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原 史朗
産業技術総合研究所
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北村 順也
電子技術総合研究所
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山崎 聡
筑波大学 電子・物理工学専攻
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松田 彰久
電子技術総合研究所
-
松田 彰久
産業技術総合研究所薄膜シリコン系太陽電池開発研究ラボ
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大串 秀世
電子技術総合研究所材料科学部
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原 史朗
電子技術総合研究所
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三沢 俊司
日本真空超材研
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Binning Gerd
IBM Research Division, Zurich Research Laboratory
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Rohrer Heinrich
IBM Research Division, Zurich Research Laboratory
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原 史朗
独立行政法人産業技術総合研究所
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山崎 聡
東芝メディカルシステムズ株式会社:jeita超音波専門委員会
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吉広 和夫
電子技術総合研究所
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Rohrer Heinrich
Ibm Research Division Zurich Research Laboratory
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Binning Gerd
Ibm Research Division Zurich Research Laboratory
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坂井 文樹
セイコー電子工業
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大串 秀世
電子技術総合研究所
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山崎 聡
Jrcat(アトムテクノロジー研究体)-nair(産業技術融合領域研究所)
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
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原 史朗
独立行政法人 産業技術総合研究所
-
Binnig Gerd
IBM Research Division, Zurich Research Laboratory
著作論文
- 3a-B4-5 UHV-STMによるSi表面の観察(III)
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- STM開発の展望(STM開発の現状と展望)
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- 走査型トンネル顕微鏡による原子像と電子状態
- 2p-YF-5 3C-SiC(001)-c(2×2)炭素終端表面の原子配列構造
- 燃費-脳とコンピュ-タ
- 表面を探る : 2. 表面顕微鏡: 超伝導体と有機物質のSTM/STS ( 表面)
- 走査型トンネル顕微鏡 : 誕生から青年期へ
- 2-1 粉末フォノンエコーにおける長時間記憶(一般講演)
- P-20 a-Si,a-Si : Hの弾性表面波伝播(ポスター・セッション)
- 2p-L-8 a-Si:Hの量子二準位
- 9a-H-7 超伝導Al薄膜の非線形電気伝導
- 3p-D-11 Fluctuations in the Resistive Transition in Al Films
- 3p-D-10 Fluctuation Pairingによるトンネル電流の増加
- Scanning tunneling spectroscopy.
- 28a-LB-2 走査型トンネル顕微鏡とその応用(生体物理シンポジウム)
- 29p-TC-10 Si(111)7x7表面への酸素吸着過程のSTM観察(29pTC 表面・界面)
- 31p-L3-2 アモルファスSi:Hの弾性表面波による研究(主題:音波によるアプローチ:原子系の構造とダイナミクス,音波物性・音響シンポジウム)
- 28a-A-8 STMのスペクトロスコピーへの応用(低温シンポジウム)