坂井 文樹 | セイコー電子工業
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概要
関連著者
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)
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坂井 文樹
セイコー電子工業
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)科学機器事業部
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梶村 皓二
電総研
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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徳本 洋志
電総研
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水谷 亘
電総研
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小野 雅敏
電総研
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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岡野 真
電総研
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脇山 茂
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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阪東 寛
電総研
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村上 寛
電総研
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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渡辺 和俊
セイコー電子工業
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岡野 真
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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板東 寛
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
電総研
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小野 祐一
電総研
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阪東 寛
産総研
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村上 寛
産総研
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池上 敬一
産総研物質プロセス
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山本 昌弘
日本電気(株)c&c情報研究所
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村上 寛
電子技術総合研究所
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遠藤 和弘
電総研
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繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
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杉 道夫
桐蔭横浜大工
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斉藤 和裕
電子技術総合研究所超分子部
-
池上 敬一
電総研
-
杉 道夫
電総研
-
斉藤 和裕
電総研
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徳本 洋志
電子技術総合研究所
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
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水谷 亘
電子技術総合研究所
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山本 昌弘
日本電気(株)
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
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繁野 雅次
セイコー電子工業
著作論文
- 27a-P-10 有機物質のSTM測定(1)
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- 走査型プローブ顕微鏡
- 走査型プロープ顕微鏡(SPM)の設計
- 走査型プロープ顕微鏡の開発(開発の方法)
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- S II-5 走査型トンネル・原子間力顕微鏡 : 原子レベルで表面を解析する
- 走査型フォース顕微鏡の高機能化
- 人ひとり大切に(プレシジョンエンジニアへの期待)(21世紀に向けて)
- 30a-H-3 STMによる2H-NbSe_2の表面原子像と振幅異常(表面・界面)