小野 雅敏 | 電子技術総合研究所極限技術部

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概要

• 同名の論文著者
• 電子技術総合研究所極限技術部の論文著者

関連著者

• 小野 雅敏

  電子技術総合研究所極限技術部

• 小野 雅敏

  電子技術総合研究所

• 小野 雅敏

  電総研

• 小野 雅敏

  電総研極限技術部

• 梶村 皓二

  筑波大物質工:電総研

• 水谷 亘

  JRCAT-NAIR

• 梶村 皓二

  電総研

• 水谷 亘

  電総研

• 徳本 洋志

  電総研

• 阪東 寛

  産総研

• 繁野 雅次

  セイコー電子工業(株)

• 繁野 雅次

  セイコー電子工業株式会社

• 村上 寛

  産総研

• 村上 寛

  電子技術総合研究所

• 岡野 真

  電子技術総合研究所

• 岡野 真

  電総研

• 繁野 雅次

  セイコー電子工業

• 阪東 寛

  電総研

• 清水 肇

  電総研

• 梶村 皓二

  電子技術総合研究所

• 村上 寛

  電総研

• 徳本 洋志

  電子技術総合研究所

• 水谷 亘

  電子技術総合研究所

• 岡山 重夫

  電子技術総合研究所

• 岡山 重夫

  工業技術院電子技術総合研究所

• 坂井 文樹

  セイコー電子工業(株)

• 脇山 茂

  セイコー電子工業

• 脇山 茂

  セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g

• 阪東 寛

  電子技術総合研究所

• 清水 肇

  電子技術総合研究所

• 井上 明

  セイコーインスツル(株)

• 井上 明

  セイコー電子工業(株)

• 徳本 洋志

  Jrcat-nair

• 山崎 修一

  新日鐵第一技研

• 阪東 寛

  産業技術総合研

• 国分 清秀

  電子技術総合研究所

• 井上 明

  セイコー電子工業

• 坂井 文樹

  セイコー電子工業

• 三木 一司

  電子技術総合研究所

• 杉野谷 充

  セイコー電子工業(株)

• 大海 学

  セイコー電子工業(株)

• 中川 善嗣

  東レリサーチ

• 渡辺 和俊

  セイコー電子工業

• 岡山 重夫

  電総研

• 山田 真

  日本鋼管技術研究所

• 大海 学

  セイコー電子工業

• 田中 淳一

  日本鋼管技術研究所

• 中川 善嗣

  東レリサーチセンター

• 中川 善嗣

  (株)東レリサーチセンター 表面科学研究部

• 小野 雅敏

  工業技術院電子技術総合研究所極限技術部

• 高橋 隆

  東北大院理

• 池上 敬一

  産総研物質プロセス

• 吉田 博

  東北大理

• 杉原 和佳

  (株)東芝マイクロエレクトロニクス研究所

• 渡辺 真二

  小坂研究所

• 藤浪 真紀

  新日鐵第一技研

• 吉田 博

  東北大院理

• 坂本 邦博

  電総研

• 田中 將元

  新日鉄先端研

• 遠藤 和弘

  電総研

• 三木 一司

  電総研

• 吉岡 亨

  早大・人間科学

• 酒井 明

  京都大学工学部付属メゾ材料研究センター

• 伊藤 悦朗

  北海道大学 理研究

• 堀池 靖浩

  (株)東芝

• 吉岡 亨

  早大人間科学

• 伊藤 悦朗

  早大人間総合研究セ

• 濱 清

  早大人間科学

• 水谷 亘

  電総研極限技術部

• 清水 肇

  電総研極限技術部

• 小川 健一

  セイコー電子工業

• 杉 道夫

  桐蔭横浜大工

• 斉藤 和裕

  電子技術総合研究所超分子部

• 池上 敬一

  電総研

• 杉 道夫

  電総研

• 斉藤 和裕

  電総研

• 本間 昭彦

  セイコー電子工業

• 田中 将元

  新日銭第一技研

• 中静 恒夫

  新日銭第一技研

• 森田 直威

  東レリサーチ

• 山崎 修一

  新日銭第一技研

• 堀池 靖浩

  東大院工

• 堀池 靖浩

  東芝超lsi研:現広大工

• 脇山 茂

  セイコ・電子工業

• 宮田 千加良

  セイコ・電子工業

• 繁野 雅次

  セイコ・電子工業

• 本間 昭彦

  セイコ・電子工業

• 渡辺 和俊

  セイコ・電子工業

• 坂井 文樹

  セイコ・電子工業

• 小林 好行

  小坂研究所

• 中川 春樹

  小坂研究所

• 松本 文雄

  小坂研究所

• 赤間 善昭

  (株)東芝研究開発センターULSI研究所

• 北島 周

  セイコー電子工業

• 田中 將元

  新日鐵第一技研

• 田中 将元

  新日鐵第一技研

• 中靜 恒夫

  新日鐵第一技研

• 酒井 明

  東芝超LSI研

• 杉原 和佳

  東芝超LSI研

• 赤間 善昭

  東芝超LSI研

• 板東 寛

  電子技術総合研究所

• 杉原 和佳

  (株)東芝

• 新倉 正和

  Nkk

• 小野 祐一

  電総研

• 国分 清秀

  電総研

• 戸田 義継

  産業技術総合研究所

• 新倉 正和

  日本鋼管技術研究所

• 高橋 隆

  東北大 大学院理学研究科

• 戸田 義継

  電総研

• 平田 正鉱

  電子技術総合研究所

• 吉田 博

  東北大 理

• 平田 正紘

  電総研

• 堀池 靖浩

  東洋大学工学部電気電子工学科

• 堀池 靖浩

  極端紫外線露光システム技術開発機構(euva)

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著作論文

• 3a-W-9 リボソーム膜レプリカ微細構造のSTM観察像
• 3a-B4-10 有機物質のSTM測定(III)
• 3a-B4-2 トンネル顕微鏡用探針
• 3a-B4-9 STM/STSによる4Hb-TaS2とGICの電子状態解析
• 3a-B4-5 UHV-STMによるSi表面の観察(III)
• C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
• 24a-PS-22 有機物質のSTM測定(VII)
• 2a-T-9 有機物質のSTM測定 (IV)
• 5a-ZA-12 Bi_2Sr_2CaCu_2O_8におけるBiO面のSTM/TS測定
• STM開発の展望(STM開発の現状と展望)
• 27a-P-10 有機物質のSTM測定(1)
• 27a-P-8 "4Hb-TaS_2のCDW'SにおけるSTM像の電圧依存性"
• 27a-P-7 UHV-STMによるSi清浄表面の観察
• 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
• 28a-D-4 STMによる2Ha-NbSe_2の原子像観察
• 走査型トンネル顕微鏡による原子像と電子状態
• 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
• 低速希ガスイオンによる銅ニッケル合金の表面損傷 (極限材料の照射損傷特集)
• オ-ジェ電子分光 (スペクトロスコピ-特集号)
• 277 粒界偏析 P 量におよぼす Ni, Mo の影響 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 II(靱性・破壊, 性質, 日本鉄鋼協会第 88 回(秋季)講演大会)
• 290 粒界偏析 P 量と焼戻脆化度 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 I(焼戻脆性・高張力鋼, 性質, 日本鉄鋼協会 第 87 回(春季)講演大会)
• 走査型トンネル顕微鏡について
• 超高真空技術の現状について (フォーラム「超高真空装置に関する技術の現状と将来」)
• 真空を測る : 真空をつくって,測る
• STM 開発の最前線をたずねて(精密工学の最前線)
• 5a-TA-7 水晶振動子共振周波数の圧力依存性
• 3p-KB-5 水晶摩擦真空計と気体粘性 : 粘性率測定への応用
• 水晶振動子を用いた小型真空センサ-
• 走査型トンネル顕微鏡と関連技術
• SPMによる極微細計測の展望
• STMとAFMの現状と動向
• 真空技術の極限(4.純度)(極限へのアプローチ)
• 4.3.1 宇宙工場(4. 未来はどうなる)(4.3 新分野はまねく)

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