水谷 亘 | 電総研
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概要
関連著者
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水谷 亘
電総研
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水谷 亘
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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小野 雅敏
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繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
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繁野 雅次
セイコー電子工業
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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徳本 洋志
電総研
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阪東 寛
電総研
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杉野谷 充
セイコー電子工業(株)
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大海 学
セイコー電子工業(株)
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大海 学
セイコー電子工業
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阪東 寛
産総研
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遠藤 和弘
電総研
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渡辺 和俊
セイコー電子工業
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森田 直威
東レリサーチ
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北島 周
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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清水 肇
電総研
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井上 明
セイコーインスツル(株)
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村上 寛
電総研
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井上 明
セイコー電子工業(株)
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梶村 晧二
電総研
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中川 善嗣
東レリサーチ
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)
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山崎 修一
新日鐵第一技研
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岡野 真
電総研
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板東 寛
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
電総研
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中川 善嗣
東レリサーチセンター
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中川 善嗣
(株)東レリサーチセンター 表面科学研究部
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井上 明
セイコー電子工業
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坂井 文樹
セイコー電子工業
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村上 寛
産総研
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村田 恵三
電総研
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木下 信盛
電総研
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村上 寛
電子技術総合研究所
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池上 敬一
電総研
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杉 道夫
電総研
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斉藤 和裕
電総研
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岡野 真
電子技術総合研究所
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電子技術総合研究所
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工業技術院電子技術総合研究所
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吉田 博
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寺井 章
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原研
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吉田 博
東北大 理
著作論文
- 6a-T-10 有機物質のSTM測定(IV)
- 3a-B4-10 有機物質のSTM測定(III)
- 3a-B4-2 トンネル顕微鏡用探針
- 3a-B4-9 STM/STSによる4Hb-TaS2とGICの電子状態解析
- 5p-S4-15 STMによる有機超伝導体の観察II
- 4F202 STMによる液晶観察
- 24a-PS-22 有機物質のSTM測定(VII)
- 5a-PS-8 有機物質のSTM測定(VI)
- 2a-T-9 有機物質のSTM測定 (IV)
- 5a-ZA-12 Bi_2Sr_2CaCu_2O_8におけるBiO面のSTM/TS測定
- 27a-P-10 有機物質のSTM測定(1)
- 27a-P-8 "4Hb-TaS_2のCDW'SにおけるSTM像の電圧依存性"
- 14a-DH-7 STMによるSi表面上での有機ガリウム分解反応の観察
- 走査型トンネル電子顕微鏡(STM)による有機分子の観察
- 走査型トンネル顕微鏡による表面観察
- 28a-R-11 STS/STMによる超伝導エネルギーギャップ分布の測定
- 27a-P-9 STS/STMによる層状物質の局所状態密度関数の測定
- 28a-D-4 STMによる2Ha-NbSe_2の原子像観察
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- 4F203 理論化学計算による液晶STM像の解析
- 2B17 STMによる固体表面上の液晶分子配向の観察
- 13a-D-9 不純物補償とアンダーソン局在
- 31p-F4-11 有機物質のSTM測定(II)(表面・界面)
- 30a-H-3 STMによる2H-NbSe_2の表面原子像と振幅異常(表面・界面)
- 2p-G4-2 STMによる有機超伝導体の観察(分子性結晶・液晶・有機半導体)