6a-T-10 有機物質のSTM測定(IV)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1989-09-12
著者
-
井上 明
セイコーインスツル(株)
-
水谷 亘
JRCAT-NAIR
-
繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
-
水谷 亘
電総研
-
杉野谷 充
セイコー電子工業(株)
-
大海 学
セイコー電子工業(株)
-
井上 明
セイコー電子工業(株)
-
梶村 晧二
電総研
-
小野 雅敏
電総研
-
小野 雅敏
電子技術総合研究所
-
梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
-
大海 学
セイコー電子工業
-
井上 明
セイコー電子工業
-
繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
-
繁野 雅次
セイコー電子工業
関連論文
- 1p-M-5 STMによる原子スケール塑性現象 : ステップ形成のメカニズム
- 細胞上に形成された脂質ラフトのSPM観察
- 1P337 走査型プローブ顕微鏡SISモードによる染色体観察(バイオイメージング))
- SPMによる生細胞の表面微細構造と特性の観察
- 3P301 走査型プローブ顕微鏡による生体試料観察の課題と可能性(計測)
- 倒立型走査型プローブ顕微鏡による培養細胞の三次元形状観察
- 6a-T-10 有機物質のSTM測定(IV)
- 3a-W-9 リボソーム膜レプリカ微細構造のSTM観察像
- 3a-B4-10 有機物質のSTM測定(III)
- 3a-B4-2 トンネル顕微鏡用探針
- 4a-M-11 STMによる有機超伝導体の観察IV
- STM/STSにおける画像処理
- 3a-B4-9 STM/STSによる4Hb-TaS2とGICの電子状態解析
- 28a-PB-11 溶存酸素濃度を低減したNH_4F溶液処理を用いたAl/Si(111)界面の制御
- 3a-B4-5 UHV-STMによるSi表面の観察(III)
- 5p-S4-15 STMによる有機超伝導体の観察II
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- 電界イオン顕微鏡を装備した超高真空走査型トンネル顕微鏡の試作とSi(001)表面へのAl吸着初期過程の観察
- 4F202 STMによる液晶観察
- 24a-PS-22 有機物質のSTM測定(VII)
- 5a-PS-8 有機物質のSTM測定(VI)
- 31p-Z-6 Bi系酸化物超伝導体のSTM/TS測定 (II)
- 2a-T-9 有機物質のSTM測定 (IV)
- STMによる有機物の研究
- 5a-ZA-12 Bi_2Sr_2CaCu_2O_8におけるBiO面のSTM/TS測定
- STM開発の展望(STM開発の現状と展望)
- 27a-P-10 有機物質のSTM測定(1)
- 27a-P-8 "4Hb-TaS_2のCDW'SにおけるSTM像の電圧依存性"
- 27a-P-7 UHV-STMによるSi清浄表面の観察
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- STM による有機薄膜のバリアハイト測定
- 29p-R-6 分子単層膜の面内電子伝導
- STMによる液晶観察
- 14a-DH-7 STMによるSi表面上での有機ガリウム分解反応の観察
- 走査型トンネル電子顕微鏡(STM)による有機分子の観察
- 走査型トンネル顕微鏡による表面観察
- STMによる有機薄膜の観察 (有機薄膜の新しい配向性評価法(技術ノ-ト))
- 28a-YE-3 エピタキシャルBi_2Sr_2Ca_2Cu_3O_X薄膜における磁束グラス・液体転移
- 28a-R-11 STS/STMによる超伝導エネルギーギャップ分布の測定
- 27a-P-9 STS/STMによる層状物質の局所状態密度関数の測定
- 28a-D-4 STMによる2Ha-NbSe_2の原子像観察
- 6a-T-4 Si(111)劈開面のSTM観察
- 走査型トンネル顕微鏡による原子像と電子状態
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- 4F203 理論化学計算による液晶STM像の解析
- 2B17 STMによる固体表面上の液晶分子配向の観察
- 277 粒界偏析 P 量におよぼす Ni, Mo の影響 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 II(靱性・破壊, 性質, 日本鉄鋼協会第 88 回(秋季)講演大会)
- 290 粒界偏析 P 量と焼戻脆化度 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 I(焼戻脆性・高張力鋼, 性質, 日本鉄鋼協会 第 87 回(春季)講演大会)
- STMの現状と課題--原子尺度で物質構造を探るSTMの役割 (ナノメ-タの世界)
- Au(111)再配列面上へのCoドット配列の作製と磁性
- Au(111)面上に成長したCo微細構造と磁気光学効果
- 29a-PS-50 Au(111)面上のCoの初期成長過程と磁気光学効果
- 13a-D-9 不純物補償とアンダーソン局在
- ナノテクノロジーの現状と展望
- 産業技術総合研究所におけるナノテク戦略
- SPMによるナノスケール・マニピュレーション (微小物体のマニピュレーション技術)
- セルフアセンブル膜のパターニングと機能評価
- 6p-T-11 YBCO/Auにおける近接効果のSTS測定
- 磁界源位置推定におけるシステムパラメータの影響 : 平面型グラジオメータシステムにおいて
- 1A05 SPMによるポリイミド配向膜観察
- 1T15 SPMによる生体試料観察
- 走査型トンネル顕微鏡について
- 超高真空技術の現状について (フォーラム「超高真空装置に関する技術の現状と将来」)
- 真空を測る : 真空をつくって,測る
- STM 開発の最前線をたずねて(精密工学の最前線)
- SC-9-6 STMを用いた機能性分子自己組織化膜(SAM)の局所的電気伝導性測定
- 3p-DS-2 Ge中Gaアクセプタ正孔の緩和時間
- 1a-LD-8 粉末フォノンエコーの形と幅
- 5)液晶パネルに用いる電極絶縁膜の低抵抗化(情報ディスプレイ研究会)
- 液晶パネルに用いる電極絶縁膜の低抵抗化 : 非発光型ディスプレイ関連 : 情報ディスプレイ
- 化合物半導体上に形成した自己組織化単分子膜とそのナノ構造
- 金属薄膜、有機単分子膜、高分子表面のナノメートル構造
- 5a-TA-7 水晶振動子共振周波数の圧力依存性
- 3p-KB-5 水晶摩擦真空計と気体粘性 : 粘性率測定への応用
- 1A02 SPMによるポリイミド配向膜観察(II)
- AFMリソグラフィ
- 1D07 AFMによるポリイミド膜観察
- 27a-ZF-6 ポリイミド配向膜のAFM観察
- 3連F05 LB法により調製した表面官能基の液晶配向特性への影響
- 走査型トンネル顕微鏡と関連技術
- SPMによる極微細計測の展望
- STMとAFMの現状と動向
- 5-12 高分子電着フィルターの低インピーダンス化によるマルチカラー液晶表示装置の特性改善
- STMによる液晶観察
- 表面科学シリ-ズ-9-STMによる吸着分子の観察
- STM/STSによる吸着物質の測定
- STMによる精密3次元表面計測 (3次元計測技術)
- カーボンナノチューブの SPM への応用
- アブストラクト
- 31p-F4-11 有機物質のSTM測定(II)(表面・界面)
- 30a-H-3 STMによる2H-NbSe_2の表面原子像と振幅異常(表面・界面)
- 30a-H-2 半導体表面用UHV-STM(表面・界面)
- 2p-G4-2 STMによる有機超伝導体の観察(分子性結晶・液晶・有機半導体)
- 31p-F4-13 UHV-STMによるSi表面の観察(II)(表面・界面)
- 29p-EA-9 β-(BEDT-TTF)_2I_3の高いTc状態のHc_2(29p EA 分子性結晶・液晶・有機半導体)
- 3P-YD-3 Au(111)再配列面に形成させたCoドットの磁化過程(3pYD 磁性(薄膜,人工格子),磁性)
- 29p-TC-12 グラファイトのステップ近傍の√3×√3構造(29pTC 表面・界面)
- 29p-TC-8 Si(001)2x1表面のSTM観察(29pTC 表面・界面)
- 31p-Y-7 走査型トンネル顕微鏡による細胞研究へのアプローチ(31p Y 生体物理)
- 31p-H-1 原子間力顕微鏡(AFM)による生体試料観察(31pH 生体物理,生体物理)