小野 雅敏 | 電子技術総合研究所
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概要
関連著者
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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小野 雅敏
電総研
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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平田 正紘
電子技術総合研究所
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村上 寛
電子技術総合研究所
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水谷 亘
電総研
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梶村 皓二
電総研
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国分 清秀
電子技術総合研究所
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徳本 洋志
電総研
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繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
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戸田 義継
電子技術総合研究所
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阪東 寛
産総研
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
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村上 寛
産総研
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清水 肇
電子技術総合研究所
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徳本 洋志
電子技術総合研究所
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岡野 真
電子技術総合研究所
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岡野 真
電総研
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阪東 寛
電総研
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杉野谷 充
セイコー電子工業(株)
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大海 学
セイコー電子工業(株)
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水谷 亘
電子技術総合研究所
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小宮 宗治
日本真空技研
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大海 学
セイコー電子工業
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石丸 肇
高エネルギー物理学研究所
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美馬 宏司
大阪市立大学
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阪東 寛
電子技術総合研究所
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清水 肇
電総研
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井上 明
セイコーインスツル(株)
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井上 明
セイコー電子工業(株)
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岡山 重夫
電子技術総合研究所
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徳本 洋志
Jrcat-nair
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岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)
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山崎 修一
新日鐵第一技研
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脇山 茂
セイコー電子工業
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一村 信吾
電子技術総合研究所
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塚越 修
日本真空技術(株)技術開発部
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小林 正典
高エネルギー加速器研究機構
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三木 一司
電子技術総合研究所
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平松 成範
高エネルギー物理学研究所
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村上 寛
電総研
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梶村 晧二
電総研
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後藤 敬典
名古屋工業大学
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林 俊雄
日本真空技術(株)技術開発部
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工藤 勲
電子技術総合研究所
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前田 高雄
東京理科大学工学部
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北島 周
セイコー電子工業
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西守 克己
鳥取大学工学部
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加藤 益
鳥取大学工学部
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阪東 寛
産業技術総合研
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小原 建治郎
日本原子力研究所
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小西 亮介
鳥取大学工学部
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兼松 太
大阪市立大学工学部
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高橋 隆
東北大院理
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加藤 敏郎
名古屋大学工学部
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吉田 博
東北大理
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杉原 和佳
(株)東芝マイクロエレクトロニクス研究所
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浦野 俊夫
神戸大学工学部
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吉田 博
東北大院理
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田中 將元
新日鉄先端研
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酒井 明
京都大学工学部付属メゾ材料研究センター
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岡野 達雄
東京大学生産技術研究所
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関口 敦
日電アネルバ
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中川 善嗣
東レリサーチ
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渡辺 和俊
セイコー電子工業
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町田 和雄
電子技術総合研究所
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増田 俊雄
名古屋大学全学技術センター工学技術系
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赤間 善昭
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
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田中 將元
新日鐵第一技研
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尾崎 知幸
鳥取大学工学部
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近藤 行人
日本電子株式会社
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杉原 和佳
(株)東芝
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宗村 哲雄
東京理科大学工学部電気工学科
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岡山 重夫
電総研
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高橋 弓弦
大阪府立工業技術研究所
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山田 真
日本鋼管技術研究所
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田中 淳一
日本鋼管技術研究所
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金持 徹
神戸大学工学部
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中川 善嗣
東レリサーチセンター
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中川 善嗣
(株)東レリサーチセンター 表面科学研究部
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高橋 隆
東北大 大学院理学研究科
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吉村 長光
日本電子株式会社
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平野 治男
日本電子株式会社
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尾浦 憲治郎
大阪大学工学部
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籠田 和徳
佐賀大学理工学部
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大山 英典
豊橋技術科学大学電機電子工学系
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鈴木 紀男
日本原子力研究所
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松本 裕治
電子技術総合研究所
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大和田野 芳郎
電子技術総合研究所
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伊藤 弘昌
東北大学 電気通信研究所
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池上 敬一
産総研物質プロセス
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小林 司
日電アネルバ
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西村 秀紀
福岡大学理学部
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清水 三郎
日本真空技術(株)
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木島 滋
日本原子力研究所
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渡辺 真二
小坂研究所
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谷 孝志
日本原子力研究所
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藤浪 真紀
新日鐵第一技研
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川田 正国
電子技術総合研究所
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緒方 潔
日新電機株式会社
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越川 孝範
大阪電気通信大学
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石川 雄一
株式会社日立製作所機械研究所
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坂本 邦博
電総研
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遠藤 和弘
電総研
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三木 一司
電総研
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阿部 哲也
日本原子力研究所那珂研究所
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吉岡 亨
早大・人間科学
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多賀 康訓
豊田中央研究所
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伊藤 悦朗
北海道大学 理研究
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菊池 一夫
日本原子力研究所
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雨宮 進
名古屋大学工学部原子核工学科
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堀池 靖浩
(株)東芝
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山川 洋幸
日本真空技術株式会社
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金原 粲
東京大学工学部
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吉岡 亨
早大人間科学
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山口 貢
(株)東芝
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伊藤 悦朗
早大人間総合研究セ
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濱 清
早大人間科学
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水谷 亘
電総研極限技術部
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清水 肇
電総研極限技術部
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小川 健一
セイコー電子工業
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伴野 達也
東京大学工学系研究科物理工学専攻
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長坂 道雄
日電アネルバ
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矢部 勝昌
北海道工業技術研究所
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前野 勝樹
日本原子力研究所
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桜井 利夫
東京大学物性研究所
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山川 洋幸
日本真空技術(株)
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久保 富夫
高エネルギー加速器研究機構
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杉 道夫
桐蔭横浜大工
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鈴木 正昭
北海道工業開発試験所
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斉藤 和裕
電子技術総合研究所超分子部
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池上 敬一
電総研
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杉 道夫
電総研
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斉藤 和裕
電総研
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鈴木 浩司
名古屋工業大学
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本間 昭彦
セイコー電子工業
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松森 徳衛
東海大学工学部電子工学科
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前田 高雄
東京理科大学工学部電気工学科
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岩田 敏彰
電子技術総合研究所
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栗田 康雄
(株)東芝
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本田 登志雄
(株)東芝
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田中 将元
新日銭第一技研
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中静 恒夫
新日銭第一技研
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森田 直威
東レリサーチ
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山崎 修一
新日銭第一技研
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堀池 靖浩
東大院工
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堀池 靖浩
東芝超lsi研:現広大工
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伊藤 昭夫
日本真空技術(株)
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橋場 正男
北海道大学工学部
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三重野 哲
静岡大学理学部物理学科
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脇山 茂
セイコ・電子工業
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宮田 千加良
セイコ・電子工業
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繁野 雅次
セイコ・電子工業
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本間 昭彦
セイコ・電子工業
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渡辺 和俊
セイコ・電子工業
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坂井 文樹
セイコ・電子工業
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小林 好行
小坂研究所
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中川 春樹
小坂研究所
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松本 文雄
小坂研究所
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古屋 貴章
高エネルギー加速器研究機構
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光武 邦寛
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
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庄田 尚弘
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
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加藤 芳秀
(株)東芝研究開発センターULSI研究所
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田中 将元
新日鐵第一技研
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中靜 恒夫
新日鐵第一技研
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酒井 明
東芝超LSI研
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杉原 和佳
東芝超LSI研
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赤間 善昭
東芝超LSI研
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板東 寛
電子技術総合研究所
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中東 孝浩
日新電機(株)先端技術研究開発部技術研究グループ
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宇佐美 誠二
横浜国立大学工学部
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新倉 正和
Nkk
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鳳 紘一郎
電子技術総合研究所
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楠 勲
東北大学科学計測研究所
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市ノ川 竹男
早稲田大学
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本間 禎一
東京大学生産技術研究所
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畠山 力三
東北大学工学研究科
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小貫 英雄
電子技術総合研究所
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石原 永伯
鳥取大学工学部
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玉川 孝一
日本真空技術・筑波半技研
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小池 勲
福岡工業大学
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君島 文雄
日本真空技研
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小野 祐一
電総研
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伊藤 弘孝
三菱電線工業(株)中央研究所基礎技術研究部
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服部 秀三
名古屋大学
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中山 勝矢
電子技術総合研究所
-
中山 勝矢
電試
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飯塚 泰雄
京都工芸繊維大学物質工学科
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下村 安夫
日本原子力研究所
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井口 昌司
(株)大阪真空機器製作所
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新倉 正和
日本鋼管技術研究所
-
生田 孝
大阪電気通信大学
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山中 久彦
大阪府立工業奨励館
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松崎 誼
日本原子力研究所
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横倉 賢治
日本原子力研究所
-
藤井 光廣
長崎総合科学大学工学部
著作論文
- 6a-T-10 有機物質のSTM測定(IV)
- 3a-W-9 リボソーム膜レプリカ微細構造のSTM観察像
- 3a-B4-10 有機物質のSTM測定(III)
- 3a-B4-2 トンネル顕微鏡用探針
- 3a-B4-9 STM/STSによる4Hb-TaS2とGICの電子状態解析
- 3a-B4-5 UHV-STMによるSi表面の観察(III)
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- 電界イオン顕微鏡を装備した超高真空走査型トンネル顕微鏡の試作とSi(001)表面へのAl吸着初期過程の観察
- 4F202 STMによる液晶観察
- 24a-PS-22 有機物質のSTM測定(VII)
- 5a-PS-8 有機物質のSTM測定(VI)
- 31p-Z-6 Bi系酸化物超伝導体のSTM/TS測定 (II)
- 2a-T-9 有機物質のSTM測定 (IV)
- STMによる有機物の研究
- 5a-ZA-12 Bi_2Sr_2CaCu_2O_8におけるBiO面のSTM/TS測定
- STM開発の展望(STM開発の現状と展望)
- 27a-P-10 有機物質のSTM測定(1)
- 27a-P-8 "4Hb-TaS_2のCDW'SにおけるSTM像の電圧依存性"
- 27a-P-7 UHV-STMによるSi清浄表面の観察
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- 28a-D-4 STMによる2Ha-NbSe_2の原子像観察
- 走査型トンネル顕微鏡による原子像と電子状態
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- 277 粒界偏析 P 量におよぼす Ni, Mo の影響 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 II(靱性・破壊, 性質, 日本鉄鋼協会第 88 回(秋季)講演大会)
- 290 粒界偏析 P 量と焼戻脆化度 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 I(焼戻脆性・高張力鋼, 性質, 日本鉄鋼協会 第 87 回(春季)講演大会)
- 走査型トンネル顕微鏡について
- 超高真空技術の現状について (フォーラム「超高真空装置に関する技術の現状と将来」)
- 真空を測る : 真空をつくって,測る
- STM 開発の最前線をたずねて(精密工学の最前線)
- 5a-TA-7 水晶振動子共振周波数の圧力依存性
- LEED, LEESによるFe表面状態の解析(I) : 表面物理, 薄膜
- 走査型トンネル顕微鏡と関連技術
- SPMによる極微細計測の展望
- STMとAFMの現状と動向
- アブストラクト
- アブストラクト
- 水晶摩擦真空計と粘性真空計の理論
- 水晶振動子を用いた摩擦真空計の理論
- アブストラクト
- アブストラクト
- アブストラクト
- 真空標準の国際比較の実験
- 紙と鉛筆の代用 (パソコン利用法(技術ノ-ト))
- 真空度の標準 (真空度測定(技術ノ-ト))
- ターボ分子ポンプ付スペースチャンバの試作
- 真空技術の極限(4.純度)(極限へのアプローチ)
- 4.3.1 宇宙工場(4. 未来はどうなる)(4.3 新分野はまねく)
- アブストラクト
- 第30回 Physical Electronics Conference に出席して
- 真空度標準の現状
- アブストラクト
- ロケット飛行中に融製したNi-Mo-TiC合金中の諸元素の動き
- スピニングロ-タ-真空計の起動時オフセット圧力変動の解析
- ナノメ-トル実験の世界--広がる走査型トンネル顕微鏡の応用
- 走査型トンネル顕微鏡 (機能を見る顕微鏡)
- STM(走査型トンネル顕微鏡)とはどういうものか--誰にでもわかるSTM Q&A (STMの進歩)
- 走査型トンネル顕微鏡(STM)による表面状態測定 (表面の物理化学)
- STMによるスペクトロメトリの現状 (STMの固体表面観察への応用と展望)
- 超高真空における計測 (極限環境における計測)
- 極限環境における計測 (極限環境における計測)
- 走査型トンネル顕微鏡
- オ-ジェ電子分光法とそれによる固体表面の研究
- オージェ電子分光関連文献一覧 (オージェ電子分光-2-(特集))
- 水晶摩擦真空計の試作 (第26回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス--昭和60年11月6日〜8日,東京)
- VS-1の電極変位と感度との相関
- スピニングロ-タ真空計動作条件の測定精度への影響
- 表面の研究と真空技術(真空の科学と技術) (わが国における真空の科学と技術の歩み(30巻記念特集号)) -- (わが国の真空科学・技術の歴史的発展をたどる)
- LEED-AES装置用球面グリッドの製作(寄書) (オージェ電子分光(特集-1-))
- 逆電位型エネルギー分析器の特性 (オージェ電子分光-2-(特集))
- 28a-LB-2 走査型トンネル顕微鏡とその応用(生体物理シンポジウム)
- 29p-TC-10 Si(111)7x7表面への酸素吸着過程のSTM観察(29pTC 表面・界面)