岡山 重夫 | 工業技術院電子技術総合研究所
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概要
関連著者
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岡山 重夫
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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脇山 茂
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脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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電子技術総合研究所
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小野 雅敏
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産総研
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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渡辺 和俊
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セイコー電子工業
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徳本 洋志
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水谷 亘
電総研
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
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水谷 亘
電子技術総合研究所
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小林 好行
小坂研究所
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岡山 重夫
電総研
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阪東 寛
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遠藤 和弘
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セイコー電子工業(株)
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脇山 茂
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宮田 千加良
セイコ・電子工業
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繁野 雅次
セイコ・電子工業
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本間 昭彦
セイコ・電子工業
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渡辺 和俊
セイコ・電子工業
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坂井 文樹
セイコ・電子工業
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中川 春樹
小坂研究所
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松本 文雄
小坂研究所
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梶村 晧二
電子技術総合研究所
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板東 寛
電子技術総合研究所
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阪東 寛
産業技術総合研
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安藤 和徳
セイコー電子工業
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小野 祐一
電総研
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古室 昌徳
電子技術総合研究所
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渡辺 眞二
(株)小坂研究所
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井上 明
セイコー電子工業
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藤岡 弘
大阪大学大学院 工学研究科
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
著作論文
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- 28a-D-4 STMによる2Ha-NbSe_2の原子像観察
- 6a-T-4 Si(111)劈開面のSTM観察
- STMによる精密加工面の計測
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- STM技術のマイクロエレクトロニクスへの応用(STM開発の現状と展望)
- LSI 観察・評価装置
- 収差補正の現状と展望
- 金谷光一先生を偲ぶ
- 2a-T-8 Si(111)劈開面のSTM像と構造モデル
- マイクロメカニズムとしてのSTM (マイクロメカニズム)
- 高分解能微動アクチュエータと制御 : STMにおけるピエゾアクチュエータ(高度メカニズムと制御)
- STMの現状と課題--原子尺度で物質構造を探るSTMの役割 (ナノメ-タの世界)
- 16・7電子部品用精密機器 : 16.精密・情報機械
- 17・8 電子部品用精密機器(17.精密・情報機械,機械工学年鑑)
- 17・8 電子部品用精密機器 : 17. 精密・情報機械(機械工学年鑑)
- 17・8 電子部品用精密機器(17.精密・情報機械,機械工学年鑑)