板東 寛 | 電子技術総合研究所
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概要
関連著者
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徳本 洋志
電総研
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板東 寛
電子技術総合研究所
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梶村 皓二
電総研
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脇山 茂
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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阪東 寛
電総研
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村上 寛
電総研
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水谷 亘
電総研
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小野 雅敏
電総研
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岡野 真
電総研
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遠藤 和弘
電総研
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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渡辺 和俊
セイコー電子工業
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森田 直威
東レリサーチ
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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坂井 文樹
セイコー電子工業(株)
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坂井 文樹
セイコー電子工業
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安西 弘行
電総研
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村田 恵三
電総研
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杉原 和佳
(株)東芝マイクロエレクトロニクス研究所
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木下 信盛
電総研
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石黒 武彦
電総研
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坂本 邦博
電総研
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三木 一司
電総研
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徳本 円
電総研
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徳本 洋志
電子技術総合研究所
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岡野 真
電子技術総合研究所
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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梶村 皓二
電子技術総合研究所
-
水谷 亘
電子技術総合研究所
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岡山 重夫
電子技術総合研究所
-
岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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酒井 明
東芝超LSI研
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杉原 和佳
東芝超LSI研
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杉原 和佳
(株)東芝
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坂東 寛
電総研
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岡山 重夫
電総研
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小野 祐一
電総研
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杉原 和佳
東芝
著作論文
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- 28a-R-11 STS/STMによる超伝導エネルギーギャップ分布の測定
- 30a-H-3 STMによる2H-NbSe_2の表面原子像と振幅異常(表面・界面)
- 30a-H-2 半導体表面用UHV-STM(表面・界面)
- 2p-G4-2 STMによる有機超伝導体の観察(分子性結晶・液晶・有機半導体)
- 31p-F4-13 UHV-STMによるSi表面の観察(II)(表面・界面)