渡辺 和俊 | セイコー電子工業
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概要
関連著者
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徳本 洋志
電総研
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渡辺 和俊
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業
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脇山 茂
セイコー電子工業(株)科学機器事業部技術ー部技術 2g
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梶村 皓二
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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水谷 亘
電総研
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梶村 皓二
筑波大物質工:電総研
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阪東 寛
産総研
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電総研
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遠藤 和弘
電総研
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小野 雅敏
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電子技術総合研究所
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岡山 重夫
工業技術院電子技術総合研究所
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坂井 文樹
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森田 直威
東レリサーチ
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徳本 洋志
電子技術総合研究所
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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小坂研究所
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徳本 洋志
Jrcat-nair
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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板東 寛
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岡山 重夫
電総研
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小野 祐一
電総研
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セイコー電子工業
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
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阪東 寛
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三木 一司
電子技術総合研究所
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井上 明
セイコー電子工業(株)
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水谷 亘
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脇山 茂
セイコ・電子工業
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宮田 千加良
セイコ・電子工業
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繁野 雅次
セイコ・電子工業
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本間 昭彦
セイコ・電子工業
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渡辺 和俊
セイコ・電子工業
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坂井 文樹
セイコ・電子工業
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中川 春樹
小坂研究所
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松本 文雄
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阪東 寛
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坂東 寛
電総研
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安藤 和徳
セイコー電子工業
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井上 明
セイコー電子工業
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繁野 雅次
セイコー電子工業
著作論文
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- 28a-R-11 STS/STMによる超伝導エネルギーギャップ分布の測定
- 27a-P-9 STS/STMによる層状物質の局所状態密度関数の測定
- 6a-T-4 Si(111)劈開面のSTM観察
- 28a-D-3 原子像観察のためのSTM装置
- 30a-H-3 STMによる2H-NbSe_2の表面原子像と振幅異常(表面・界面)