清水 肇 | 電総研
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概要
関連著者
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清水 肇
電総研
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清水 肇
電子技術総合研究所
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国分 清秀
電総研
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一村 信吾
電総研
-
国分 清秀
電子技術総合研究所
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一村 信吾
電子技術総合研究所
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関根 重幸
電子技術総合研究所
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関根 重幸
産業技術総合研究所
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関根 重幸
産総研
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小野 雅敏
電子技術総合研究所極限技術部
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関根 重幸
東京工業大学資源化学研究所
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関根 重幸
(独)産業技術総合研究所技術情報部門
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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島田 寿男
電子技術総合研究所
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平野 洋一
電子技術総合研究所
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水谷 亘
電総研
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大和田野 芳郎
電総研
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松本 裕治
電総研
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黒河 明
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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中村 健
産業技術総合研究所
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水谷 亘
JRCAT-NAIR
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八木 康之
電子技術総合研究所
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前嶋 良紀
電子技術総合研究所
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中村 健
電総研
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山田 真
日本鋼管技術研究所
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黒河 明
電子技術総合研究所
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田中 淳一
日本鋼管技術研究所
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橋詰 宙子
電総研
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岡野 達雄
東大生研
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八木 康之
産総研
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井上 明
セイコーインスツル(株)
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吉岡 亨
早大・人間科学
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伊藤 悦朗
北海道大学 理研究
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福井 賢一
東京工業大学大学院理工学研究科化学専攻
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吉岡 亨
早大人間科学
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島田 寿男
電総研
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弘田 公
電子技術総合研究所
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弘田 公
電総研
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前嶋 良紀
電総研
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繁野 雅次
セイコー電子工業(株)
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井上 明
セイコー電子工業(株)
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小野 雅敏
電総研
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伊藤 悦朗
早大人間総合研究セ
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濱 清
早大人間科学
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水谷 亘
電総研極限技術部
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清水 肇
電総研極限技術部
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小野 雅敏
電総研極限技術部
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小貫 英雄
電総研
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岩澤 康裕
東大理
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大西 洋
東大理
-
福井 賢一
東大理
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水谷 亘
電子技術総合研究所
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新倉 正和
Nkk
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島田 寿男
産総研
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寺田 啓子
東大生研
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新倉 正和
日本鋼管技術研究所
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引田 公
電総研
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芝口 孝
教育大光研
-
尾中 龍猛
教育大光研
-
尾中 龍猛
東京教育大学光学研究所
-
井上 明
セイコー電子工業
-
小川 潔
電子技術総合研究所
-
引田 公
電子技術総合研究所
-
杉沼 茂実
電子技術総合研究所
-
芦野 圭宏
アルパックPHI
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繁野 雅次
セイコー電子工業株式会社
-
繁野 雅次
セイコー電子工業
著作論文
- 3a-W-9 リボソーム膜レプリカ微細構造のSTM観察像
- STMによる有機物の研究
- 14a-DH-7 STMによるSi表面上での有機ガリウム分解反応の観察
- 走査型トンネル電子顕微鏡(STM)による有機分子の観察
- 走査型トンネル顕微鏡による表面観察
- レーザーイオン化による極高真空計測-分子密度計測の可能性-
- 極高真空におけるアトムカウンティング技術
- 4a-Q-11 MonohydrideおよびPolyhydride吸着Si(111)7×7表面の2次非線形光学特性
- 31a-WC-12 水素吸着によるSi(111)7x7表面の2次非線形光学特性の変化
- ピコ秒レーザによるガスイオン化特性と真空計測
- 極高真空装置の残留ガス特性 (活性粒子による新表層材料創製の研究)
- 極高真空のための新計測技術
- 30p-R-8 非共鳴多光子イオン化におけるレーザ波長効果
- 30p-R-8 非共鳴多光子イオン化におけるレーザ波長効果
- 〔工業技術院電子技術総合研究所〕研究設備紹介-17-レ-ザによる圧力計測のための極高真空装置
- レーザによる極高真空計測の高感度化
- レーザ生成イオンの飛行時間型質量分析における検出効率の質量依存性
- 逆磁場ピンチプラズマによるMoリミター損傷
- 低速希ガスイオンによる銅ニッケル合金の表面損傷 (極限材料の照射損傷特集)
- オ-ジェ電子分光 (スペクトロスコピ-特集号)
- 277 粒界偏析 P 量におよぼす Ni, Mo の影響 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 II(靱性・破壊, 性質, 日本鉄鋼協会第 88 回(秋季)講演大会)
- 290 粒界偏析 P 量と焼戻脆化度 : Auger 分析による焼戻脆化現象の考察 I(焼戻脆性・高張力鋼, 性質, 日本鉄鋼協会 第 87 回(春季)講演大会)
- 3p-Q-13 氷のX.P.S.
- 逆磁場ピンチプラズマ装置を用いた壁材料評価
- レーザを用いた圧力計測 : 2.レーザ生成イオンの新しい検出システム
- レーザを用いた圧力計測 : 1.各種気体のレーザ・イオン化特性
- 逆磁場ピンチプラズマを用いたプラズマ壁相互作用試験装置
- 31a-G1-3 稀ガスの非共鳴多光子吸収イオン化(量子エレクトロニクス・原子・分子合同セッション)
- 31a-G1-3 稀ガスの非共鳴多光子吸収イオン化(量子エレクトロニクス・原子・分子合同セッション)