後藤 敬典 | 名古屋工業大学
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概要
関連著者
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後藤 敬典
名古屋工業大学
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後藤 敬典
名古屋工業大学生産システム工学科
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石川 和雄
名古屋工業大学計測工学科
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境 悠治
日本電子(株)
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後藤 敬典
名工大
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清水 肇
電子技術総合研究所
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石川 和雄
名工大
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後藤 敬典
名古屋工大
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戸田 義継
電子技術総合研究所
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小野 雅敏
電子技術総合研究所
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志水 隆一
大阪大学工学部
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平田 正紘
電子技術総合研究所
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榊原 伸義
日本電装(株)基礎研究所
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岩田 弘
名古屋工業大学生産システム工学科
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徳高 平蔵
鳥取大学工学部
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阿部 哲也
日本原子力研究所
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村上 義夫
日本原子力研究所
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美馬 宏司
大阪市立大学
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村上 寛
電子技術総合研究所
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越川 孝範
大阪電気通信大学
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岡野 達雄
東京大学生産技術研究所
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飯田 忠三
名古屋工業大学共通講座分析化学研究室
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磯兼 雄一郎
名工大
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磯兼 雄一郎
名工大工
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前田 高雄
東京理科大学工学部
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尾崎 知幸
鳥取大学工学部
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内田 哲男
別府大学文化財研究所
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内田 哲男
名古屋工業大学
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一村 信吾
電子技術総合研究所
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西守 克己
鳥取大学工学部
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加藤 益
鳥取大学工学部
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後藤 敬典
産業技術研究所(中部センター)
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小原 建治郎
日本原子力研究所
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塚越 修
日本真空技術(株)技術開発部
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小宮 宗治
日本真空技研
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国分 清秀
電子技術総合研究所
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小西 亮介
鳥取大学工学部
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兼松 太
大阪市立大学工学部
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石丸 肇
高エネルギー物理学研究所
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太田 賀文
日本真空技術株式会社
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水野 元
高エネルギー加速器研究機構(KEK)
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中村 久三
日本真空技術(株) 千葉超材研
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清水 三郎
日本真空技術
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清水 三郎
日本真空技術株式会社
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山田 太起
日本真空技術(株)超材料研究所
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飯田 忠三
名古屋工業大学応用化学科
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成島 勝也
高エネルギー物理学研究所
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堀越 源一
高エネルギー物理学研
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沈 国華
復旦大学物理系
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境 悠治
日本電子 (株)
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種村 真幸
名古屋工業大学計測工学科
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渡部 広美
高エネルギー物理学研究所
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八木 邦夫
大阪市立大学工学部
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斉藤 茂
東京理科大学
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辻 泰
東京大学生産技術研究所
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後藤 敬典
名古屋工業大学計測工学科
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高島 克己
鳥取大学工学部
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田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
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越川 孝範
大阪電通大
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鈴木 紀男
日本原子力研究所
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小島 功
名古屋工業大学
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伊藤 弘昌
東北大学 電気通信研究所
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松原 道夫
セイコー電子工業(株)
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磯山 博文
土岐市立陶磁器試験場
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小林 司
日電アネルバ
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木島 滋
日本原子力研究所
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谷 孝志
日本原子力研究所
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吉原 一紘
金属材料技術研究所
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竹市 嘉紀
名古屋工業大学生産システム工学科
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緒方 潔
日新電機株式会社
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石川 雄一
株式会社日立製作所機械研究所
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阿部 哲也
日本原子力研究所那珂研究所
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多賀 康訓
豊田中央研究所
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平松 成範
高エネルギー物理学研究所
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菊池 一夫
日本原子力研究所
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関口 敦
日電アネルバ
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山川 洋幸
日本真空技術株式会社
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山口 貢
(株)東芝
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伴野 達也
東京大学工学系研究科物理工学専攻
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榊原 伸義
名工大
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水野 幹
名工大
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立川 慶一
名工大
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榊原 伸義
名古屋工業大学
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磯兼 雄一郎
名古屋工業大学
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林 俊雄
日本真空技術(株)技術開発部
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鈴木 浩司
名古屋工業大学
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松森 徳衛
東海大学工学部電子工学科
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工藤 勲
電子技術総合研究所
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近藤 行人
日本電子株式会社
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楠 勲
東北大学科学計測研究所
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志水 隆一
大阪工業大学情報科学部
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本間 禎一
東京大学生産技術研究所
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石原 永伯
鳥取大学工学部
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宗村 哲雄
東京理科大学工学部電気工学科
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小池 勲
福岡工業大学
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磯山 博文
名古屋工業大学応用化学科
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立松 満理子
名古屋工業大学応用化学科
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伊藤 弘孝
三菱電線工業(株)中央研究所基礎技術研究部
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林 孝好
NTT電子応用研究所
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服部 秀三
名古屋大学
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飯塚 泰雄
京都工芸繊維大学物質工学科
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下村 安夫
日本原子力研究所
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清水 肇
電子技術総合研究所極限技術部
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小林 正典
高エネルギー加速器研究機構
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井口 昌司
(株)大阪真空機器製作所
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生田 孝
大阪電気通信大学
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松崎 誼
日本原子力研究所
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横倉 賢治
日本原子力研究所
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境 悠治
日本電子
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吉村 長光
日本電子株式会社
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平野 治男
日本電子株式会社
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丸野 尚彦
(株)長野計器製作所
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祐延 悟
(株)東芝
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百瀬 丘
高エネルギー物理学研究所
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上村 政雄
豊橋技術科学大学エネルギー工学系
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大林 哲郎
(株)大阪真空機器製作所
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志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
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志水 隆一
大阪大学工学部応用物理学科
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岩佐 康史
(株)東芝京浜事業所
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沢田 芳夫
(株)東芝重電技術研究所
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小島 功
名古屋工大
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橋口 栄弘
新日本製鉄(株)先端技術研究所
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和田 健二
科学技術庁無機材質研究所
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高木 憲一
日本真空技術
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李 日昇
大阪電気通信大学工学部応用電子工学科,エレクトロニクス基礎研究所
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藤田 大介
東京大学生産技術研究所
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金戸 成
(株)大阪真空機器製作所
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水野 元
高エネルギー物理学研究所
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三木 信晴
(株)東芝
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中村 和幸
日本原子力研究所
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沈 国華
日本真空技術(株)
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五明 由夫
東京芝浦電気会社
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山川 洋幸
日本真空技術
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磯貝 秀明
電子技術総合研究所
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樫村 隆則
日本原子力研究所
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大塚 英男
日本原子力研究所
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玉野 順次
名古屋大学工学部
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赤石 憲也
名古屋大学プラズマ研究所
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鈴木 基行
名古屋大学プラズマ研究所
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岡本 康治
日新電機株式会社
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倉橋 正保
化学技術研究所
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吉川 秀司
日本真空技術
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大村 卓一
(株)松下テクノリサーチ
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上條 栄治
日新電機株式会社
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大崎 明彦
東京大学生産技術研究所
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吉田 勝治
名古屋工業大学
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高木 直之
名古屋工業大学
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柳田 博司
日本真空技術株式会社
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小宮 宗治
日本真空技術株式会社
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北原 洋明
日電アネルバ株式会社
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久保 圭司
大阪市立大学工学部
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八木 信昭
日本真空技術株式会社
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桜井 誠
核融合科学研究所
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松原 道夫
セイコー電子工業(株)科学機器事業部
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中村 久三
日本真空技術(株)超材料研究所
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大村 卓一
(株) 松下テクノリサーチ
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黒川 明
大阪大学工学部
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大島 忠平
無機材料研究所
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添田 房美
(株) 東レリサーチセンター
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福田 安生
日本鋼管 (株)
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田中 浩三
(株) 住友化学工業
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工藤 正博
(財) 材料科学技術振興財団
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塩川 善郎
日電アネルバ (株)
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関根 哲
日本電子 (株)
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潮 嘉次郎
東京大学工学部物理工学科
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森田 慎三
名城大学理工学部
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山田 雅雄
名古屋大学工学部
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米田 勝実
名城大学理工学部
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照井 佳幸
東北大学科学計測研究所
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楠本 淑郎
日本真空技術株式会社
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小牧 昭二郎
セイコー電子工業
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高島 克己
鳥取大学工学部電子工学科
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府山 盛明
株式会社日立製作所日立研究所
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中野 文雄
株式会社日立製作所日立研究所
-
加藤 勇
早稲田大学理工学術院先進理工学研究科
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椛沢 稔
日本原子力研究所
-
西守 克己
鳥取大学工学部電子工学科
-
柳田 博司
日本真空技術 (株)
-
杉山 康夫
日本真空技術K.K.
-
松田 七美男
東京大学工学部物理工学科
-
岡野 文範
日本原子力研究所
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細川 直吉
日電アネルバ
-
尾崎 知幸
鳥取大学工学部電子工学科
-
稲葉 文男
東北大学
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櫻井 誠
東京大学生産技術研究所
-
安東 靖典
日新電機株式会社
-
美馬 宏司
大阪市立大学工学部
-
橋口 栄弘
新日本製鉄 (株)
-
越川 孝範
大阪電気通信大学工学部
-
徳高 平蔵
鳥取大学工学部電子工学科
-
曽我 太佐男
株式会社日立製作所日立研究所
-
中西 弘
高エネルギー物理学研究所
-
加藤 益
鳥取大学工学部電子工学科
-
後藤 敬典
名古屋工業大学工学部
-
服部 秀三
名古屋大学工学部
-
田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
-
広木 成治
日本原子力研究所
-
関口 敦
日電アネルバ株式会社
-
岩田 弘
名古屋工業大学
-
小林 睦弘
東京工業大学工学部
著作論文
- VAMAS-Type CMAによる標準スペクトルへの一歩
- オージュ電子利得の絶対測定 : スペクトルと真空系
- オ-ジェ電子絶対測定用CMA(VAMASタイプ)の作製--CMA内の漏れ磁場補正方式の検討 (第30回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
- オ-ジェ電子利得の絶対測定-1-CMAの設計
- フレーム原子吸光法における絶対量測定の応用 : 検量線の適用濃度範囲の拡大
- ペリスタ型ポンプの脈流の特性とその除去
- 銅ニッケル合金のイオン誘起粒界損傷
- イオンスパッタによるコ-ン形成の1つの可能性(Cuの動的観察) (第30回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
- 標準CMA分光器で得た絶対オージェスペクトル
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(5)
- 講義 SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(4)
- オージェ電子分光における円筒鏡型標準分光器の作成とその特性
- オージェ電子分光における運動エネルギーの絶対計測
- 絶対オージェ電子分光装置の開発と標準化
- 電子衝撃型試料加熱法
- 絶対オージェスペクトロメトリー
- FFT信号解析装置の製作と1滴法ICPへの応用
- アブストラクト
- アイソレーション・アンプを用いたオージェ電子分光法
- オージェ電子分光法による定量分析
- アブストラクト
- イオンスパッタによるコーン形成の1つの可能性 (Cuの動的観察)
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(3)
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(2)
- SIにつながる真の電子スペクトルを求める実験法(1)
- オージェ電子絶対測定用CMA (VAMASタイプ) の作製 : CMA内の漏れ磁場補正方式の検討
- 雑音平滑化アルゴリズムの検討 : AESにおける測定パラメータ (III)
- オージエ電子利得の絶対測定 (I) : CMAの設計
- AESにおける測定パラメータ (II) : 数値微分法の検討
- AESにおける測定パラメータ (I) : 時定数とS/Nの検討
- 電子ビーム衝撃部への表面吸着硫黄の集中 : 共吸着酸素の影響
- 高速微小電流計の設計と製作
- VAMAS-SCA-WG in Japan活動報告
- 荷電粒子と真空 [II] : 1.多価イオンに関連した原子物理と超高真空技術、2.電子線と表面
- アブストラクト
- 「表面と分光学」第6講オージエ電子分光法 (AES) その発見からマイクロプローブAESまで
- 簡単で高安定度の汎用エミッションコントローラー
- オ-ジェ電子分光法の定量化
- 二次電子放出最大深さ決定法としてδ-n解析法の検討 : 表面物理, 薄膜
- 二次電子放射特性の自動記録装置とその応用 : 表面物理, 薄膜
- 拡散ポンプ油および真空グリースの二次電子放射
- 7p-E-1 拡散ポンプ油の二次電子放射
- 有機物で汚れた金属の二次電子放射 : 電子放射
- 拡散ポンプ油DC-704およびOctoil-Sの二次電子放射