志水 隆一 | 大阪大学工学部
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
志水 隆一
大阪大学工学部
-
篠田 軍治
大阪大学工学部
-
志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
-
後藤 敬典
名古屋工業大学
-
志水 隆一
大工大
-
志水 隆一
大阪大学工学部応用物理学科
-
吉川 英樹
科学技術庁無機材質研究所
-
吉原 一紘
金属材料技術研究所
-
生田 孝
大阪大学工学部
-
一村 信吾
電子技術総合研究所
-
後藤 敬典
産業技術研究所(中部センター)
-
閔 敬烈
金属材料技術研究所
-
村田 顕二
阪大工
-
村山 智一
東京芝浦電気(株)
-
多留谷 政良
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
多留谷 政良
大阪大学工学部応用物理学科
-
木下 正治
東京芝浦電気(株)
-
村田 顕二
大阪大学工学部
-
田中 彰博
アルバック・ファイ(株)
-
越川 孝範
大阪電通大
-
清水 肇
電子技術総合研究所
-
笠原 章
金属材料技術研究所
-
田中 高穂
無機材質研究所
-
生田 孝
大阪電通大
-
越川 孝範
大阪電気通信大学
-
吉原 一紘
物質・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
-
山村 泰道
岡山理科大学
-
志水 隆一
大阪工業大学情報科学部
-
志水 隆一
大阪工業大学
-
高井 義造
大阪大学工学部応用物理学教室
-
本間 禎一
東京大学生産技術研究所
-
伊藤 憲昭
名古屋大学工学部結晶材料工学教室
-
林 孝好
NTT電子応用研究所
-
Takai Yoshiaki
Nagoya University
-
篠田 軍治
阪大工学部
-
上村 政雄
豊橋技術科学大学エネルギー工学系
-
志水 隆一
大阪工業大学情報科学部情報科学科
-
開原 義之
大阪大学工学部応用物理学科
-
橋口 栄弘
新日本製鉄(株)先端技術研究所
-
ホフマン シーグフリード
金属材料技術研究所
-
李 春飛
大阪大学工学部
-
閔 敬烈
大阪大学工学部
-
村田 顕次
大阪大学工学部
-
三浦 信
原燃公社
-
白井 翼
大阪大学工学部
-
岸本 浩
大阪大学工学部
-
村田 顕二
阪大工学部
-
志水 隆一
阪大工学部
-
藤田 大介
東京大学生産技術研究所
-
黒河 明
独立行政法人産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門先端シリコンデバイスグループ
-
後藤 敬典
名古屋工業大学生産システム工学科
-
吉川 英樹
大阪大学工学部応用物理科
-
丁 澤軍
大阪大学工学部
-
黒河 明
大阪大学工学部
-
倉橋 正保
化学技術研究所
-
大村 卓一
(株)松下テクノリサーチ
-
河合 七雄
無機材質研究所
-
河合 七雄
無機材質研
-
徳高 平蔵
鳥取大学工学部
-
大村 卓一
(株) 松下テクノリサーチ
-
黒川 明
大阪大学工学部
-
大島 忠平
無機材料研究所
-
添田 房美
(株) 東レリサーチセンター
-
福田 安生
日本鋼管 (株)
-
田中 浩三
(株) 住友化学工業
-
工藤 正博
(財) 材料科学技術振興財団
-
塩川 善郎
日電アネルバ (株)
-
関根 哲
日本電子 (株)
-
橋口 栄弘
新日本製鉄 (株)
-
志水 隆一
大阪大学工学部応用物理学教室
-
山崎 泰規
大阪大学工学部応用物理学教室
-
高井 義造
大阪大学工学部
-
後藤 敬典
名古屋工業大学工学部
-
四方 道治
大阪大学工学部応用物理学教室
-
一村 信吾
電子技術総合研究所, 極限技術部
-
田中 彰博
アルバック・ファイ (株)
-
村田 顕二
大阪大学工学部, 応用物理学教室
-
伊藤 憲昭
名古屋大学工学部
-
伊藤 憲昭
名古屋大学・理学部
-
志水 隆一
大阪大学工学部, 応用物理学教室
-
志水 隆一
大阪大学工学部 応用物理学教室
著作論文
- 集束イオンビームでTEM用試料を作製したら
- 加工されたMn-Zn単結晶フェライトの磁気特性 (第3報) : テープラッピングによる磁区構造の変化
- 走査型電子顕微鏡による磁区観察法 : Mn-Zn 単結晶フェライト加工変質層の研究への適用
- イオンビーム照射法および高周波スパッタリング法によって作製した窒化チタン薄膜の表面構造
- FIB装置 : 今は昔
- 2 合金表面におけるイオン衝撃効果(超精密界面接合の現状)
- (7) 表面解析-ESCA, オージェ, SIMS の現状と将来展望(主題 : 高品質素材の開発と利用)(素材工学研究所第一回研究懇談会)(素材工学研究会記事)
- EPMA試料内における電子の振舞(IV) : 角度分布による考察 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- EPMA試料内における電子の振舞(III) : X線強度分布の測定 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- EPMA試料内における電子の振舞(II) : モンテカルロ法による取扱い : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- EPMA試料内における電子の振舞(I) : Wedgeによる考察 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- JXA-3型E.P.M.A.における湾曲結晶を用いたスペクトロメーターの性能 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- X線マイクロアナライザーのX線発生源(X線)
- 電子分光
- 電子分光スペクトルにおけるバックグラウンドの除去法
- オージェ電子分光法による定量分析
- 定量オージェ分光法の進展II : 定量分析への理論的アプローチ
- VAMAS-SCA-WG in Japan活動報告
- オージェ定量分析の基礎 : 背面散乱電子効果の補正を中心にして
- 「表面と分光学」第6講オージエ電子分光法 (AES) その発見からマイクロプローブAESまで
- イオンスパッタリング (イオン応用特集)
- LaB6カソ-ドを用いた小型で安定なPierce型電子銃の試作
- モンテカルロ法のX線マイクロアナリシスへの応用