志水 隆一 | 大阪工業大学
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
志水 隆一
大阪工業大学
-
志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
-
志水 隆一
大阪工業大学情報科学部情報科学科
-
志水 隆一
大工大
-
志水 隆一
大阪大学大学院工学研究科
-
志水 隆一
大阪工業大学情報科学部
-
Takai Yoshiaki
Nagoya University
-
多留谷 政良
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
後藤 敬典
産業技術研究所(中部センター)
-
井上 雅彦
摂南大学工学部
-
志水 隆一
阪大工
-
Takeguchi Masaki
High Voltage Electron Microscopy Station National Institute For Materials Science
-
吉岡 明浩
大阪工業大学情報科学部情報科学科
-
井上 雅彦
摂南大理工
-
OGAI Keiko
Toyota Technological Institute
-
Ogai Keiko
Department Of Applied Physics Osaka University
-
TAKEGUCHI Masaki
Advanced Nano-characterization Center, National Institute for Materials Science
-
Takeguchi M
National Institute For Materials Science
-
Tanaka Miyoko
High Voltage Electron Microscopy Station National Institute For Materials Science
-
三宅 正司
阪大溶接研
-
山下 広順
名古屋大 理
-
石井 秀司
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻:(現)(株)イオン工学研究所
-
土田 一輝
名大プラズマ研
-
越川 孝範
大阪電通大
-
坂 公恭
名古屋大学工学部
-
藤田 順治
名大プラ研
-
藤田 順治
名古屋大学プラズマ研究所核融合プラズマ計測センター
-
川崎 忠寛
名大院工
-
生田 孝
大阪電通大
-
木内 正人
産業技術総合研究所環境化学技術研究部門
-
松谷 貴臣
産業技術総合研究所
-
岡野 達雄
東京大学生産技術研究所
-
大島 忠平
早稲田大学理工学部応用物理学科
-
田村 圭司
大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学
-
白木 将
東京大学生産技術研究所
-
志水 隆一
国際高等研究所
-
土田 一輝
名大プラ研
-
上原 洋一
阪府大工
-
佐々木 亘
阪府大工
-
山中 正宣
阪大工
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科
-
原田 研
阪大工
-
坂 公恭
名古屋大学大学院工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大学工学部量子工学
-
尾張 真則
東京大学環境安全研究センター
-
大島 忠平
無機材研
-
大島 忠平
早稲田大学 各務記念材料技術研究所
-
大島 忠平
早稲田大学理工学部
-
二瓶 好正
東京理科大学総合研究機構
-
石井 秀司
東京大学生産技術研究所
-
二瓶 好正
東京理科大学
-
遠藤 久満
京工繊大工芸
-
遠藤 久満
京工繊大・工芸
-
熊尾 章宏
京都工芸繊維大学
-
志水 隆一
大阪大学工学部
-
高井 義造
大阪大学大学院工学研究科 生命先端工学専攻
-
高井 義造
大阪大学工学部応用物理学教室
-
生田 孝
大阪歯科大学 口腔解剖
-
ALKAFRI Adel
名古屋工業大学
-
市川 洋
名古屋工業大学
-
後藤 敬典
名工大工
-
姜 熙載
阪大工
-
鎌田 耕治
名大プラ研
-
鎌田 耕治
名古屋大 プラズマ研
-
木内 正人
産業技術総合研
-
木内 正人
産業技術総合研究所
-
坂 公恭
名古屋大学工学研究科
-
坂 公恭
名古屋大 大学院工学研究科
-
田村 圭司
東京大学生産技術研究所
-
藤田 順治
名古屋大学プラズマ研究所
-
田口 雅美
アルバック・ファイ株式会社 技術部
-
田口 雅美
アルバックファイ
-
西方 健太郎
阪大院・工
-
木村 吉秀
阪大院・工
-
川崎 忠寛
阪大院・工
-
高井 義造
阪大院・工
-
志水 隆一
阪大院・工
-
藤本 史郎
新日本電工(株)
-
橋本 良夫
新日本電工(株)
-
石井 秀司
東京大学 生産技術研究所
-
高橋 貞幸
株式会社リガク
-
白水 清孝
大阪工業大学情報科学部情報科学科
-
李 壽燦
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
天野 幹也
東京大学生産技術研究所
-
田村 理恵
東京大学生産技術研究所
-
堂井 真
理学電機
-
塚本 勝美
理学電機
-
多留谷 政良
大阪大学工学部応用物理学科
-
開原 義之
大阪大学工学部応用物理学科
-
大島 忠平
早稲田大学
-
熊尾 章宏
京工繊大工芸
-
坂 公恭
名古屋大学
-
白木 將
理化学研究所
-
熊尾 章宏
京工繊大・工芸
-
木村 吉秀
大阪大 大学院工学研究科
-
遠藤 久満
京都工芸繊維大学工芸学部
-
塚本 勝美
リガク
-
Takeguchi Masaki
Department Of Applied Physics Faculty Of Engineering Osaka University
-
高井 義造
大阪大学工学部
著作論文
- SIトレーサブルな電子分光法 ; CMAを例として
- Log-Log表示によるAESスペクトル:拡張Sickafus Plot
- 2a-SB-21 レーザー誘起蛍光法(LIFM)によるスパッタ : 原子の密度測定 I
- 表面と分光学-6-オ-ジェ電子分光法(AES)--その発見からマイクロプロ-ブAESまで(講座)
- 実時間演算機能を有するCCDカメラの開発
- 強力軟X線源の開発-AlN/Cuタｰゲット
- 熱電界放射陰極(Zr-O/W (100))にみる高温表面物性の新たな展開
- 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -研究計画と進展状況について-
- 回折面アパーチャを用いた X 線光電子回折パターンの高角度分解能測定
- 集束イオンビームによる断面TEM試料作製
- ダイヤモンドをよく知るために--評価法(16):透過型電子顕微鏡(2)試料作製法
- ダイヤモンドをよく知るために--評価法(16)透過型電子顕微鏡(1)概論
- 集束イオンビームでTEM用試料を作製したら
- 原子レベルのキャラクタリゼ-ションをめざして (マイクロビ-ムアナリシスの現状と展望)
- 電子顕微鏡技術の来し方行く末 (電子顕微鏡・装置開発の将来を探る)
- 電子顕微鏡誕生をもたらした背景について--Hans Betheより学んだことなど (〔分析電子顕微鏡討論会〕20周年特別企画)
- FIBにおける最小イオン照射損傷--cross-sectional sputteringの限界について (ハードマテリアル評価の最前線)
- 25a-Q-3 0.1μmφ電子線バイプリズム極細線の試作とその特性
- X線微小分析装置 X線マイクロアナライザー(EPMA)
- 産学協力について-瀬藤委員会に思う-
- マイクロビームアナリシスとともに茫々45年 : その基礎的研究から国際標準化へ
- 多層膜ターゲットにおける特性X線の空間分布のモンテカルロシミュレーション
- 低速イオン銃を用いた高分解能深さ方向分析〔含 査読者からのコメント・質疑応答〕
- FIB : その開発が目指したもの
- Study of Defects and Strains on Cleaved GaAs (110) Surface by Reflection Electron Microscopy
- The Fringe Scanning Method as Numerical Reconstruction for Electron Holography
- Aberration Correction by Electron Holography Using Numerical Reconstruction Method
- Observation of GaAs(110)Surface Defect by Reflection Electron Holography