井上 雅彦 | 摂南大理工
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概要
関連著者
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井上 雅彦
摂南大学工学部
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井上 雅彦
摂南大理工
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木村 隆
物質・材料研究機構
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木村 隆
日本テキサス・インスツルメンツ
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木村 隆
独立行政法人物質・材料研究機構 ナノ計測センター先端表面化学分析グループ
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田沼 繁夫
独立行政法人物質・材料研究機構
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木村 隆
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構
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橋本 哲
鋼管計測(株)
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橋本 哲
鋼管計測株式会社分析センター
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橋本 哲
NKK鉄鋼研究所
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橋本 哲
日本鋼管(株)中央研究所
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構分析支援ステーション
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鈴木 峰晴
アルバック・ファイ株式会社
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橋本 哲
鋼管計測 物理分析室
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三浦 薫
韓徳化学株式会社
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志水 隆一
大阪工業大学
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志水 隆一
Osaka Inst. Technol. Osaka Jpn
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志水 隆一
大阪工業大学情報科学部情報科学科
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木村 隆
物質・材料研究機構 分析ステーション
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田沼 繁夫
物質・材料研究機構ナノ計測センター
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橋本 哲
日本鋼管
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田口 俊弘
摂南大理工
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田口 俊弘
摂南大工
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西田 憲二
電力中央研究所材料科学研究所
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西田 憲二
物質・材料研究機構
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木村 隆土
福島県立医科大学第一外科
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井上 雅彦
摂南大学 工学部
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鈴木 峰晴
NTT-AT 分析センタ
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三浦 薫
トクヤマ(株) 筑波研究室
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木村 隆
福島県立医科大学臓器再生外科
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井上 雅彦
摂南大工
著作論文
- 二酸化シリコン薄膜(SiO_2)の電子線照射損傷を定量的に評価する
- 電子線照射によるSiO_2/Si試料損傷の低エネルギーオージェピークを用いた定量的評価
- AESによるSiO2/Si試料表面の電子線照射損傷評価〔含 質疑〕
- 同軸試料台と2連微小電流計を用いたスパッタ深さ方向分析用イオンビームの収束及び位置合わせ
- FIBにおける最小イオン照射損傷--cross-sectional sputteringの限界について (ハードマテリアル評価の最前線)
- 23pQJ-9 周期構造を持つカーボンナノチューブと高強度レーザーの相互作用(23pQJ プラズマ科学(高エネルギー密度プラズマ・プラズマ応用),領域2(プラズマ基礎・プラズマ科学・核融合プラズマ・プラズマ宇宙物理))
- 26pYP-6 格子状クラスターとレーザーの相互作用(プラズマ科学(高エネルギー密度プラズマ・その他),領域2,プラズマ基礎・プラズマ科学・核融合プラズマ・プラズマ宇宙物理)
- 低速イオン銃を用いた高分解能深さ方向分析〔含 査読者からのコメント・質疑応答〕